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　　薄膜反射儀是一種功能強大切且非接觸式的薄膜測量方法，當薄膜厚度和光學常數(shù)在測量系統(tǒng)范圍內時，系統(tǒng)能又快又輕松的測量。在用來測量薄膜厚度時，有幾種常見的對光譜反射儀的誤解。薄膜反射儀采用*的反射光測試原理進行測試，入射光被帶顏色的測試條吸收；通過測量被吸收的光的強度，被分析物的濃度被計算出來。RQ反射儀有兩種類型：基本型反射儀和加強型反射儀。測試系統(tǒng)由RQ系列反射儀，條行碼和RQ反射試紙條組成。采用*的反射光測試原理，條行碼自動識別技術，避免操作誤差，無須對儀器進行校正。儀器的雙光束檢測，同時進行兩次測量，增加了分析測試的準確性。

　　是一種非標準的測儀器，各個牌子的儀器功能與性能各不相同，有的差別很大，但一般都有如下的功能：

　　1，能檢測各種不同類型的薄膜開關

　　2，能測試薄膜開關的通路，短路，斷路

　　3，能測試薄膜開關連線電阻（阻值是否超標）

　　4，能測試出微短路，絕緣不良

　　可以實現(xiàn)產(chǎn)品的厚度檢測，實現(xiàn)了高精度檢測服務。我們使用超聲波測厚儀可以幫助我們更好的實現(xiàn)高精度檢測，同時降低對設備的破壞。我們可以利用這款設備實現(xiàn)高效的檢測，通過該設備我們會還可以實現(xiàn)非接觸檢測，幫助實現(xiàn)高效的檢測服務。

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