目錄:儀景通光學科技（上海）有限公司>>工業顯微鏡>> USPMⅢ奧林巴斯 鏡片反射率測定儀 USPMⅢ
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USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀
USPM-RU III反射儀可精確測量當前分光儀無法測量的微小、超薄樣本的光譜反射率，不會與樣本背
面的反射光產生干涉。是適合測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統。
消除背面反射光
采用特殊光學系統，消除背面反射光。
不必進行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。
可測定微小區域的反射率
用物鏡對焦于樣本表面的微小光斑（?60 μm），可以測定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。
測定時間短
由于使用了Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測光機構，可以進行快速、再現性很高的測定。
支持XY色度圖、L*a*b*測定
可以依據分光測色法，通過分光反射率測定物體顏色。
可以測定高強度鍍膜的膜厚
采用干涉光分光法，可以在不接觸、無損的情況下測定被檢物的膜厚（單層膜）。
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