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詳細(xì)摘要： 二手日立噴金儀掃描電子顯微鏡 (sem) 是一種多功能的工具，在大部分時(shí)候，無需什么樣品制備，即可提供各種樣品的納米級(jí)信息。而在某些情況下，為了獲得更好的sem圖像，會(huì)推薦或甚至有必要結(jié)合噴金儀（離子濺射儀）使用sem。在這篇博客中，我們將解釋噴金儀是如何工作的，以及適用的樣品類

詳細(xì)摘要： 二手耐馳 LFA 447 導(dǎo)熱儀NETZSCH 公司 LFA 447 Nanoflash® 閃光導(dǎo)熱儀，在材料熱擴(kuò)散與導(dǎo)熱性能測(cè)量方面又一有力的工具。遵照 ASTM E1461 標(biāo)準(zhǔn)，Nanoflash® 使用氙燈作為加熱源加熱樣品表面，使用紅外探測(cè)器讀取樣品溫升，減少了潛在的表面熱阻，可以精確測(cè)量薄的樣品如基質(zhì)上的涂層、薄膜材料或多層樣品。

詳細(xì)摘要： 二手耐馳導(dǎo)熱儀 LFA 467激光閃射法（LFA）是一種快速靈活的測(cè)量方法，近年來發(fā)展十分迅速，不僅能精確地直接測(cè)量熱擴(kuò)散系數(shù)，也可通過比熱的測(cè)量或輸入進(jìn)一步計(jì)算得到導(dǎo)熱系數(shù)。耐馳公司提供的LFA 可以覆蓋各類測(cè)試材料與極為寬廣的溫度范圍。其遵從的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)包括：ASTM E 1461, DIN EN 821, DIN 30905。

詳細(xì)摘要： 耐馳 二手 LFA 467 閃射法導(dǎo)熱儀開創(chuàng)熱擴(kuò)散系數(shù)與導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量的新天地 —— 快速、簡(jiǎn)單、經(jīng)濟(jì)

詳細(xì)摘要： 二手 Hot Disk TPS 500 (S)熱導(dǎo)儀Hot Disk TPS 500熱導(dǎo)儀作為一款杰出的熱常數(shù)分析儀，能快速的準(zhǔn)確的測(cè)量不同材料的導(dǎo)熱系數(shù)，熱擴(kuò)散系統(tǒng)和比熱。TPS 500 S型號(hào)更是在500的基礎(chǔ)上增加了更多強(qiáng)大的新功能。

詳細(xì)摘要： 二手 Hot Disk TPS 2200導(dǎo)熱儀Hot Disk TPS 2200導(dǎo)熱儀是一款物美價(jià)廉的系統(tǒng)，它適合較廣的樣品種類和材料科學(xué)研究的日常實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)工作

詳細(xì)摘要： 二手 Hot Disk TPS 2500S導(dǎo)熱儀是Hot Disk AB公司一系列產(chǎn)品中的核心系統(tǒng)。這款研發(fā)用熱常數(shù)分析儀針對(duì)任何類型材料的精準(zhǔn)熱傳導(dǎo)性能分析而設(shè)計(jì)，是主流的科研系統(tǒng)并滿足ISO 22007-2標(biāo)準(zhǔn)。以導(dǎo)熱為主體的熱分析儀器廠家。

詳細(xì)摘要： 二手 Hot Disk TPS 3500導(dǎo)熱儀 瑞典Hot Disk公司主要開發(fā)、制造并銷售基于瞬變平面熱源技術(shù)（TPS）的熱導(dǎo)率、熱擴(kuò)散率和比熱容的導(dǎo)熱系數(shù)儀。TPS技術(shù)被眾多實(shí)驗(yàn)室的研究人員所采用，以導(dǎo)熱為基礎(chǔ)的導(dǎo)熱儀。

詳細(xì)摘要： （2手）掃描電鏡SEM+EDX分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標(biāo)，就可完成從圖像觀測(cè)到元素分析的整個(gè)過程。

詳細(xì)摘要： 二手鎢燈絲電鏡，二手SEM；掃描電鏡分辨率：高真空二次電子像3.0nm（30KV） 掃描電鏡放大倍數(shù)：5×～1000000×，連續(xù)可調(diào) 能譜儀分辨率：MnKα峰的半高寬優(yōu)于127eV； 能譜儀元素測(cè)試范圍：Be4— Pu94

詳細(xì)摘要： 二手島津lc-20a液相，由脫氣單元、低壓梯度單元、泵單元、混合器、自動(dòng)進(jìn)樣器、柱溫箱和UV-Vis組成。 提高效率，進(jìn)樣速度及樣品處理能力大幅度提高 常用分析操作自動(dòng)化 自動(dòng)完成有效性檢驗(yàn)，省時(shí)省力 CLASS-VP VER.6.1X色譜工作站，圖解式畫面和向?qū)Чδ埽僮髦庇^簡(jiǎn)便 分為標(biāo)準(zhǔn)型LC-2010CHT系統(tǒng)和配帶樣品冷卻器的LC-2010AHT系統(tǒng)

詳細(xì)摘要： 萊伯泰科微波消解儀提供了整個(gè)分析過程的*步，也是成功分析的Z關(guān)鍵一步。Milestone公司把我們?nèi)康臒崆椤⑺邢嚓P(guān)領(lǐng)域的知識(shí)、未來檢測(cè)對(duì)儀器的需求全部?jī)A注在全新的ETHOS UP上，以更好地為的化學(xué)家們提供服務(wù)。ETHOS UP秉承Milestone一貫的理念，將儀器硬件、操作界面、監(jiān)控手段、高壓轉(zhuǎn)子實(shí)現(xiàn)*的融合。

詳細(xì)摘要： 二手布魯克臺(tái)階儀XT德國(guó)布魯克DektakXT臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5Å.使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域.

詳細(xì)摘要： 二手島津熱分析儀DSC-60差示掃描量熱儀（DSC）是材料測(cè)試的工具，此類儀器廣泛應(yīng)用于材料研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)控。DSC作為質(zhì)控儀器方法的趨勢(shì)仍在繼續(xù)增加。島津打破了“自動(dòng)取樣器是昂貴、笨重并且專用的機(jī)器"的傳統(tǒng)觀念，推出了代表“內(nèi)置自動(dòng)進(jìn)樣器"概念的DSC-60A。并且，DSC-60A還使用軟件功能來節(jié)約成本，提高效率；并且機(jī)身小巧，可安裝在有限的空間內(nèi)。

詳細(xì)摘要： 二手馬爾文3000激光粒度儀Mastersizer系列激光衍射粒度儀為干法和濕法體系的顆粒粒度分布進(jìn)行快速準(zhǔn)確的測(cè)量。從評(píng)估產(chǎn)品一致性、溶解性，到改善堆積密度以優(yōu)化最終產(chǎn)品性能并控制粉體流動(dòng)性以提高生產(chǎn)效率，顆粒大小分析對(duì)于了解和控制這些性能至關(guān)重要。基于可視化軟件和人機(jī)工程設(shè)計(jì)，Mastersizer系列產(chǎn)品可以幫助使用者更快捷地完成粒度測(cè)試。

詳細(xì)摘要： 日立二手電鏡SEM+EDX掃描電子顯微鏡詳細(xì)信息該設(shè)備具有新研制的電子光學(xué)系統(tǒng)和自動(dòng)化功能顯示系統(tǒng)有全屏顯示，無閃爍，高像素和實(shí)時(shí)圖像顯示等優(yōu)異的性能，它還可以實(shí)時(shí)信號(hào)混合并同時(shí)顯示兩個(gè)不同的檢測(cè)器觀測(cè)到的互不相同的樣品信息。

詳細(xì)摘要： VARIAN二手ICP-710/720光譜儀全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀, 穩(wěn)定可靠、全波長(zhǎng)連續(xù)覆蓋、方便高效、操作成本低。儀器為臺(tái)式設(shè)計(jì)、全譜直譜型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀，滿足各行業(yè)的科研和生產(chǎn)分析過程,可方便的進(jìn)行定性、半定量、精確定量分析，是常量、微量和痕量無機(jī)元素同時(shí)分析的理想儀器。

詳細(xì)摘要： 二手高分辨率場(chǎng)發(fā)射電鏡是電子顯微鏡的一種，掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征。

詳細(xì)摘要： 二手場(chǎng)發(fā)射顯微鏡SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。具有高性能x射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、半定量及定量分分析，具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。

詳細(xì)摘要： 二手場(chǎng)發(fā)射電鏡，二手SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡通用性強(qiáng)，可廣泛應(yīng)用于納米材料、金屬材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)化工、醫(yī)學(xué)及生物學(xué)領(lǐng)域，可高效觀察包括非導(dǎo)體樣品及強(qiáng)磁性樣品等。