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耳機綜合測試儀特點：
品名：耳機綜合測試儀
主要特點:
· 典型的THD+N -106 dB以及24位、1百萬點的FFT (選件)
· 不需要任何編程，在3秒內進行全面測試
· 直觀的用戶接口，一鍵點擊測量
· 支持VB.NET,C#.NET,全面地LabVIEW驅動
· 用腳踏開關或條碼掃描器控制APx
· 在任何一臺APx儀器上分享工程文件以及采集的.wav文件
· 用MS word 或APx的用戶接口創建自定義的測試報告
· 高級的測量庫包括IMD, MOL, 動態范圍, FFT或更多 (選件)
型號和選件：APx515只有一個型號，但有軟件選件擴展測量能力
APx515 2通道輸入/出 192k采樣數字 I/O接口音頻分析儀
SW-HST 增加高速測量的多音(Multi-tone) 和連續掃描 (Continuous Sweep) 測量
SW-AML 增加IMD、MOL、動態范圍、FFT以及其他高級測量工具庫
SW-ACR 增加聲學響應測量
SW-ALL HST+AML+ACR
測量參數：
APX515測量功能
| 音頻測量： | 聲學測量： |
| 1、輸出電壓 | 1、頻響曲線（靈敏度）SPL |
| 2、功放增益 | 2、失真 |
| 3、輸出功率 | 3、極性 |
| 4、總諧波失真 | 4、聲學相位 |
| 5、頻率響應 | 5、異音Rub & Buzz 檢測 |
| 6、分離度/串擾 | 6、T/S參數 |
| 7、信噪比 | 7、阻抗曲線及音圈直流電阻 |
| 8、底噪 | 8、空氣泄露檢測 |
| 9、相位 | 9、瀑布和極化圖 |
| 10、互調失真 | 10多次諧波 |
| 11、動態范圍 |
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| 12、共模抑制比 |
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| 13、直流偏移 |
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| 系統性能指標 | |
| 殘余THD+N | 典型值＜-105dB(1k Hz，1V) |
| 信號發生器 | |
| 頻率范圍 | 0.1Hz ~ 80K Hz |
| 頻率精度 | 3 ppm |
| zui大幅度 | 平衡16Vrms，非平衡7.5Vrms |
| 幅度精度 | ±0.05dB |
| 平坦度（20Hz~20KHz） | ±0.01dB |
| 通道 | 平衡×2，非平衡×2，共模；數字平衡×1，非平衡×1，光纖×1 |
| 輸出阻抗 | 平衡 100Ω/600Ω，非平衡50Ω/600Ω |
| 信號分析儀 | |
| zui大輸入 | 130Vpp |
| zui大帶寬 | ＞90KHz |
| 幅度精度 | ±0.05dB(1kHz) |
| 平坦度（20Hz~20KHz） | ±0.01dB |
| 殘余輸入噪聲（20k Hz BW） | 1.4uV |
| 單次諧波分析 | 2次~10次 |
| zui大FFT長度 | 1024k |
| 互調失真支持 | SMPTE,MOD,DFD |
| 通道 | 模擬平衡×2，非平衡×2；數字平衡×1，非平衡×1，光纖×1 |
| 輸入阻抗 | 平衡 600Ω/200kΩ，非平衡600Ω/100kΩ |
