顯示屏光學測量模塊 Microvision

型號：SS410-XE

品牌：Microvision

描述：SS410-XE（OMM，光學測量模塊）是一個綜合測試型模塊，多可以配置三個功能器件，包括CCD相機、光譜輻射計和響應時間模塊(RTM)，分別對應不同的測試功能，CCD相機主要用于空間測量，包括點分析、線寬、收斂、時間方差、MTF等；光譜輻射計主要用于測量亮度、色度、均勻度、光譜圖、Gamma、對比度等；RTM用于時間測量，包括運動/模糊、上升時間、下降時間、灰度轉換時間、閃爍等，可根據具體測量需求進行組合。SS410可以單獨安裝在支架上進行單點測量，也可以安裝在位移臺上，用于自動測量顯示屏的不同位置。顯示屏光學測量模塊 Microvision

產品亮點： 

l多功能集合體，設計緊湊 

l靈活搭配，可定制

l包含集成信號源

l具備MV remote模式，通過WiFi連接和測量移動設備

l自動化測試

l程序自動控溫，精確測量

l包含MV系統軟件，操作界面友好

l提供完整測試方案

l基于FPDM標準設計

l用戶可自定義客制化測試

lNIST可溯源校準 

應用范圍： 

l平板顯示（FPD）- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma

l智能移動顯示 - 手機，平板

l投影顯示 - 選用余弦擴散器測試

l抬頭顯示 - HUD & HDD

lHDTV，NTSC, PAL & SECAM電視

l適用SS90定位器可測試超大尺寸93”屏幕

lCRT顯示 - 單色，彩色，高分辨率醫學顯示器

升級選項： 

l精準位移臺（搭配位移臺，可精確位移從而實現自動測試）

l標準測量（VESA FPDM 2.0，TCO 5.2, 6.0, 7.0, 8.0，ISO 9241-3XX，ISO 13406）

lDUT位移臺（DPS-1顯示位移臺，可以調整DUT x,y,z軸位置，并可調整角度，精度為0.1°）

l完整測量系統（搭配其他組件，組成SS430系統）

l提升測量范圍（適用ND濾光片，提高感光器件的測試范圍）

技術參數：

CCD相機

圖像傳感器：1392x1040 像素

數字視頻：12-位 

元件尺寸：6.45 μm/像素

同步性：同步捕獲

濾鏡：適光性 50%, 20%, 10% & 1% ND

標準鏡頭：25mm C mount, f1.6 - f16

視場：11mm,可調節

工作距離范圍：0.5~3.5 m

亮度精度：± 4% @ 2856K Ill.A

亮度范圍：0.05 ~ 106 cd/m2 （含ND濾鏡）

測量時間：對于多數測量<1 sec

Spectrometer光譜輻射計

波長范圍：380 ~ 780nm (1000nm可選)

亮度范圍：0.01 ~ 500K cd/m2

亮度精度：±3% @ 2856K Ill.A

亮度重復率：超過30分鐘RSD < 0.5%,0.01 cd/m2靈敏度@ 3% RSD

色彩準確度：±0.002 @ 2856K Ill.A

色彩重復率：±0.0005 @ 2856K Ill.A

溫度管理：電腦自動控制

光學器件：12mm 準直 

視場角：1.5°

數字分辨率：16 bit A/D

積分時間：16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)

光學分辨率：3.8nm半高寬 @ 100μm狹縫

校準：NIST可追溯 

操作溫度：5~ 30℃

RTM 時間響應模塊

光型：低噪聲，快速響應光電二極管

樣品頻率：1MHz Max. (500kHz可選)

分辨率：16位

探測器響應：20kHz(濾波)

瞬變時間：0.1ms ~ 4s（0.01ms可選RTM-HS）

同步性：軟件和外部選項

重復性：3%

亮度范圍：0.01 ~ 50Kcd/m2

測試案例：