布魯克光學輪廓儀ContourX-100

ContourX- 100光學輪廓儀為準確和可重復的非接觸式表面計量樹立新的形象。

該小尺寸系統采用流線型設計,結合了數十年專有的布魯克白光干涉儀(WLI)創新,可提供2D / 3D高分

辨率測量功能。滿足計量要求的臺式系統具有*進的友好用戶界面，可直觀訪問多種預編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜和摩擦學應用分析。

新一代增強功能包括新的五百萬像素攝像頭,新的載物臺和新的測量模式,提供了更大的靈活性。

布魯克光學輪廓儀ContourX-100

快速、可重復的三維計量

■與 放大倍率無關的Z軸分辨率

■大尺寸的標準 視場

■高穩定性和重復性的集成防震設計

測量和分析功能

■易于使用的界面， 可快速準確地獲得結果

■廣泛的濾鏡和分析工具選項,用于粗糙度和關鍵尺寸測量分析，可用于表面粗糙度，RDLxian進封裝工藝厚度等測試。

■滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內的定制化分析報告

計量功能

ContourX-100輪廓儀是布魯克在非接觸表面計量、表征和成像領域超過四十年的專有光學創新和作為的結晶。該系統結合三維白光干涉和二維成像技術在單次測量中實現多種分析。

ContourX-100對于反射率從0.05%到百分一百的各種表面都非常易于測量。

分析與回報

通過上千項自定義分析功能和簡易但功能強大的VisionXpressM和Vision64@用戶界面，ontourX-100為提高實驗室和工廠車間的生產率進行了優化。這種*的硬件和軟件組合提供了對高重復性和高通量計量學測量的便捷訪問,*超過了同類計量技術。