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深圳市秋山貿易有限公司
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公司信息
Cresbox日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀
| 參考價 | 面議 |
具體成交價以合同協議為準
- 型號 Cresbox
- 品牌 其他品牌
- 廠商性質 代理商
- 所在地 深圳市
更新時間：2020-11-18 15:52:32瀏覽次數：1234
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日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀
測量規格
測量目標
- 與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
- 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
- 擴散樣品硅基外延離子注入樣品
- 其他（*請與我們聯系）
測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
測量范圍
[電阻（比電阻）] 1m至300kΩ·cm
[板電阻] 5m至10MΩ/ sq
測量規格
測量目標
- 與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
- 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
- 擴散樣品硅基外延離子注入樣品
- 其他（*請與我們聯系）
測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
測量范圍
[電阻（比電阻）] 1m至300kΩ·cm
[板電阻] 5m至10MΩ/ sq
測量規格
測量目標
- 與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
- 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
- 擴散樣品硅基外延離子注入樣品
- 其他（*請與我們聯系）
測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
測量范圍
[電阻（比電阻）] 1m至300kΩ·cm
[板電阻] 5m至10MΩ/ sq
日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀
