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Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)
隨著Mini-LED晶圓臺測試系統(tǒng)和Micro-LED 晶圓臺測試系統(tǒng)(簡稱M-LED)尺?的?幅縮?,光通量的下降,檢測難度在不斷上升,檢測數(shù)量也在?幅增加,對其綜合光電性能的檢測也提出了更多更新的要求。為此,Aunion Tech推出了全新開發(fā)的?主品牌晶圓級I-V-L-S綜合光電性能測試臺系統(tǒng)。 Micro-LED 晶圓臺測試系統(tǒng)可以?持蕞?10um尺?的Micro-LED的點亮測試;可以?持正裝或倒裝M-LED的測試;不僅能對單 顆M-LED進?I-V-L(電流-電壓-亮度)曲線的測試,還能獲得?度、主波?DWL和光譜信息;不僅能觀察單顆LED?身的亮度、?度分布,還能實現(xiàn)對陣列M-LED的亮度、?度、波?均勻性分布進?測量和分析。 Micro-LED 晶圓臺測試系統(tǒng)實現(xiàn)了對M-LED的綜合光電性能測試,是Micro-LED/Mini-LED企業(yè)研發(fā)、實驗的檢測設備。
M-LED的I-V-L-S綜合光電性能測試臺
• 顯微成像+探針點亮模塊:蕞??持10um尺?Micro-LED產(chǎn)品
• 超?量程的綜合光電性能測試
- I-V-L-S測試集成電流、電壓、亮度、?度、主波?、光譜等多種信息
- 可?持0.0001-1010 cd/m2 超?量程,完整測試M-LED的特性
- ?持100pA到1A的超?量程測試
• 精密運?控制臺
• 隔振光學平臺
Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)技術規(guī)格:
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