金秋九月，秋意漸濃。領拓儀器喜迎新的合作伙伴Sensofar。Sensofar-Tech,S.L成立于2001，是一家秉持高質量標準，深耕表面測量技術領域的技術公司。為研發和工業制造提供完善的解決方案。

產品上新

S neox白光共聚焦干涉顯微鏡是Sensofar專為速度而設計，品質管控和研發的解決方案。新型S neox 在性能、功能、效率和設計方面優于現有的3D光學輪廓儀，是Sensofar的新一代測量系統。

精準易用
01易于使用
Sensofar 致力于為客戶提供令人難以置信的體驗。隨著第五代 S neox 系統的誕生，我們的目標是使其易于使用、直觀且更快速。即使是初學者，只需點擊一下，即可操作測量。模塊化設計的軟件，使系統適應用戶多樣的需求。
02速度
通過采用新的智能和算法以及新型相機。數據采集速度達180fps。標準測量采集速度比以前快5倍。S neox 成為市場上速度最快的表面測量系統。

功能靈活多樣
豐富的自動化模塊，方便進行質量管控。從操作員訪問權限控制、測量程序存儲、兼容性到條形碼/QR 讀取器，以及我們專有 SensoPRO 軟件中的定制插件，都可以自動生成分析報告。我們的優化解決方案能夠在 QC 環境中工作，其具有靈活性和易于使用的界面，可編程并24小時工作。

四合一技術

01 干涉  
PSI 相移干涉法可以用于測量亞埃分辨率的高度光滑和連續表面的高度。可以使用極低的放大率 (2.5X) 測量具有相同高度分辨率的大視場。
CSI 相干掃描干涉法使用白光掃描光滑到中等粗糙表面的表面高度，達到1 nm的高度分辨率。

02 共聚焦 
共聚焦輪廓提供最高的橫向分辨率，最高可達0.15 μm水平分辨率，空間采樣可減少到0.01 μm，這是關鍵尺寸測量的理想選擇。高達NA (0.95)和放大倍率(150X) 的物鏡可用于測量局部斜率超過 70°的光滑表面。對于粗糙表面，最高可允許 86°。

03Ai 多焦面疊加
主動照明多焦面疊加是一種為了測量大粗糙表面形狀而開發的光學技術。通過使用主動照明，即使在光學平滑的表面上也能獲得更可靠的測量數據。該技術的亮點包括高斜率表(高達 86o),最快的速度(3 mm/s)和較大的垂直范圍測量。

04速度
薄膜測量技術快速、準確、無損地測量光學透明層的厚度，且不需要樣品制備。可以在不到一秒鐘的時間內測量出50 nm到1.5 μm的透明膜。測量光斑取決于物鏡放大率，最小可低至0.5 μm，最高可達40 μm。

S neox 應用范圍廣泛，功能強大，能提供全面、最完整的解決方案。如果想要探索新產品的應用，那就趕快測樣交流一下吧！