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低真空鍍膜機(jī) 噴金儀|噴碳儀|蒸鍍儀 Leica EM ACE200
為SEM和TEM分析生產(chǎn)同質(zhì)和導(dǎo)電的金屬或碳涂層,之前從未有過比與Leica EM ACE200涂層系統(tǒng)更方便的設(shè)備了。配置為濺射鍍膜機(jī)或碳絲蒸發(fā)鍍膜機(jī)后,可以...
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面議更新時(shí)間:2024/9/9 14:06:24
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高真空鍍膜機(jī) Leica EM ACE6002
您選擇了用于TEM和FE-SEM分析的分辨率。Leica EM ACE600是的多用途高真空薄膜沉積系統(tǒng),設(shè)計(jì)來根據(jù)您的FE-SEM和TEM應(yīng)用的需要生產(chǎn)非常薄...
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面議更新時(shí)間:2024/9/9 14:05:29
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高壓冷凍儀 Leica EM ICE
高壓冷凍能夠捕捉精細(xì)結(jié)構(gòu)和細(xì)胞動(dòng)力學(xué)的錯(cuò)綜變化。高壓冷凍結(jié)合光刺激是您發(fā)現(xiàn)奧妙的平臺。同步到毫秒的凍結(jié)和刺激能夠凍結(jié)您最感興趣的那一刻;以納米尺度和毫秒時(shí)間精度...
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真空冷凍傳輸系統(tǒng) Leica EM VCT500
Leica EM VCT500電鏡樣品冷凍傳輸系統(tǒng)可以在冷凍或常溫,真空或保護(hù)氣體條件下傳輸樣品,有效避免樣品在不同的制備和分析系統(tǒng)之間傳輸時(shí)受到污染和形成冰晶
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DM6 M LIBS 材料分析顯微鏡
DM6 M LIBS 材料分析顯微鏡將目視檢驗(yàn)和定性化學(xué)檢驗(yàn)組合在一個(gè)工作步驟中,與使用傳統(tǒng) SEM/EDS 檢驗(yàn)相比, 測定微觀結(jié)構(gòu)成分的時(shí)間可節(jié)省 90%。...
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面議更新時(shí)間:2024/9/9 13:52:25
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材料分析顯微鏡材料分析顯微系統(tǒng)顯微觀察材料分析測試
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格林諾夫體視顯微鏡 Leica Ivesta 3
在檢查和返工過程中,效率和可靠性至關(guān)重要。根據(jù)您的需求選擇合適的解決方案,這取決于多個(gè)因素,例如待處理樣本的類型、使用顯微鏡的人數(shù)以及使用頻率。使用Ivesta...
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面議更新時(shí)間:2024/9/9 11:01:30
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體視顯微鏡立體顯微鏡領(lǐng)拓儀器
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編碼型體視顯微鏡 Leica M125 C / M205 C
M125 C、M165 C、M205 C 和 M205 A 體視顯微鏡專精于醫(yī)療設(shè)備、汽車、電子裝置和生命科學(xué)等領(lǐng)域,可研究最細(xì)微的結(jié)構(gòu)。
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編碼型體視顯微鏡光學(xué)顯微鏡
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徠卡Leica 數(shù)字顯微鏡 Emspira 3-領(lǐng)拓儀器
Emspira 3在同一個(gè)系統(tǒng)中結(jié)合了執(zhí)行目視檢查所需的所有功能,包括比較、測量和文檔共享。使用Emspira 3檢查不同的樣本,快速達(dá)到高要求、高通量的目標(biāo)。...
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數(shù)字顯微鏡數(shù)碼顯微鏡
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用于12”精密觀察和復(fù)檢系統(tǒng) 徠卡 DM12000M
徠卡DM12000M全新的光學(xué)設(shè)計(jì),可以提供宏觀模式快速初檢,以及傾斜紫外光路功能(OUV, 傾斜紫外觀察模式) 不單提升了分辨率還提高了檢查12英寸(300毫...
型號: DM12000M
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面議更新時(shí)間:2024/9/9 10:54:51
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DM12000M徠卡DM12000M徠卡金相顯微鏡顯微鏡
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倒置式工業(yè)顯微鏡 Leica DMi8
在競爭中保持是您事業(yè)前進(jìn)的動(dòng)力。無論您從事金相學(xué)、醫(yī)療設(shè)備制造還是微電子領(lǐng)域,速度都顯得至關(guān)重要。您可根據(jù)自身需求定制徠卡這款高度模塊化的倒置式顯微鏡。它將徠卡...
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精研一體機(jī) Leica EM TXP
LEICA EM TXP是一款的可對目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確定位的表面處理工具,特別適合于SEM,TEM及LM觀察之前對樣品進(jìn)行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高...
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面議更新時(shí)間:2024/9/9 10:04:55
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超薄切片機(jī)UC Enuity
為室溫切片設(shè)計(jì)的超薄切片機(jī)和為冷凍切片的冷凍超薄切片機(jī)UC Enuity新上線自動(dòng)校準(zhǔn)和自動(dòng)修塊功能,大大降低常規(guī)切片和連續(xù)超薄切片技術(shù)門檻,讓您輕松掌握切片技...
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面議更新時(shí)間:2024/9/5 10:50:22
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為室溫切片設(shè)計(jì)的超薄切片機(jī)為冷凍切片的冷凍超薄切片機(jī)電鏡前處理設(shè)備超薄切片
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徠卡Leica Enersight 顯微鏡軟件平臺
徠卡Leica Enersight 顯微鏡軟件平臺在檢查和返工過程中,效率和可靠性至關(guān)重要。根據(jù)您的需求選擇合適的解決方案,這取決于多個(gè)因素,例如待處理樣本的類...
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面議更新時(shí)間:2024/4/23 15:20:32
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顯微鏡Leica Enersight 顯微鏡軟件平臺顯微鏡分析系統(tǒng)
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STELLARIS 5/STELLARIS 8 共聚焦顯微鏡平臺
徠卡激光掃描共聚焦顯微鏡系統(tǒng),一個(gè)基于模塊化設(shè)計(jì)的激光共聚焦平臺,集成多種功能,提供精確的三維成像。STELLARIS是一個(gè)重新設(shè)計(jì)的共聚焦顯微鏡平臺。STEL...
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面議更新時(shí)間:2024/1/26 16:33:05
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STELLARIS 5共聚焦顯微鏡共聚焦顯微鏡平臺
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Leica DVM6 超景深數(shù)碼3D視頻顯微鏡
Leica DVM6 超景深數(shù)碼3D視頻顯微鏡如果您從事質(zhì)量控制/保證、故障分析、研發(fā)工作,在顯微鏡下搜尋細(xì)節(jié)可能會(huì)占用您大量時(shí)間。
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面議更新時(shí)間:2024/1/26 13:44:35
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徠卡顯微鏡Leica實(shí)驗(yàn)設(shè)備檢測設(shè)備
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正置材料顯微鏡 Leica DM4 M
您是否需要在許多樣品和材料科學(xué)與分析領(lǐng)域進(jìn)行成像、測量并分析類似特點(diǎn)?正置材料顯微鏡 Leica DM4 M 是您理想的工業(yè)顯微鏡,無論您是新手還是專業(yè)人士。&...
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面議更新時(shí)間:2024/1/26 10:38:30
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金相顯微鏡材料顯微鏡
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為室溫切片設(shè)計(jì)的超薄切片機(jī)和為冷凍切片的冷凍超薄切片機(jī) Leica EM UC7
徠卡EM UC7提供半薄, 超薄切片,以及樣品表面光滑處理,為透射電鏡,掃描電鏡,原子力顯微鏡和光鏡檢驗(yàn)生物和工業(yè)樣品。超薄切片的新標(biāo)準(zhǔn):徠卡EM UC7樹立新...
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面議更新時(shí)間:2023/11/20 11:26:45
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三離子束切割儀 Leica EM TIC 3X
幾乎任何材質(zhì)樣品都可獲得高質(zhì)量截面,在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內(nèi)部真實(shí)結(jié)構(gòu)信息,在使用徠卡EM TIC3X之前,這類工作從未變得如此之簡單。徠卡EM ...
型號: TIC 3X
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面議更新時(shí)間:2023/11/20 11:22:48
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TIC 3X三離子束切割儀切割儀徠卡離子束切割儀
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正置材料顯微鏡 Leica DM4 M DM6 M
您是否需要在許多樣品和材料科學(xué)與分析領(lǐng)域進(jìn)行成像、測量并分析類似特點(diǎn)?Leica DM4 M 和 Leica DM6 M 是您理想的工業(yè)顯微鏡,無論您是新手還是...
型號: DM4 M DM...
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面議更新時(shí)間:2023/11/20 11:22:47
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DM4DM6正置材料顯微鏡徠卡金相顯微鏡顯微鏡
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徠卡DM2700M帶LED照明的正置材料分析顯微鏡
此材料分析顯微鏡對于金相學(xué)、地球科學(xué)、法醫(yī)檢查以及材料質(zhì)控和研究來說,它是進(jìn)行所有類型常規(guī)檢查的理想檢查工具。徠卡 DM2700 M 向您展示了顯微鏡的可靠性,...
型號: DM2700 M
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面議更新時(shí)間:2023/11/20 11:22:46
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DM2700徠卡顯微鏡正置材料分析顯微鏡金相顯微鏡