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Dimension Icon AFM性能和效率的定義

Bruker Dimension® Icon™ 原子力顯微鏡為工業界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的ＡＦＭ應用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。仍然以世界上應用廣泛的AFM大樣品平臺為基礎，齊集 Dimension系統數十年的技術經驗，廣大客戶反饋，結合工業領域的設備需求，進行全面革新。全新的系統設計，實現了*的低漂移和低噪音水平，現在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。Dimension Icon還配備了Bruker技術ScanAsyst™ （自動成像參數優化技術），用戶可以更簡易、更快捷地獲得重復性更好的數據，并且降低了對客戶操作經驗和操作水平的要求。作為目前配置的AFM，保證客戶高效完成所需的檢測任務。

性能

•*的傳感器設計，在閉環條件下，也能實現大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環噪音水平一樣的低噪音水平，且具有超高的掃描分辨率。
•*地降低噪聲水平，接觸模式下可獲得原子級圖像，在輕敲模式下低于30pm

•熱漂移速率低于200pm/分鐘，真正獲得無曲圖像

無以倫比的效率
•XYZ閉環掃描器的新設計，使儀器在較高掃描速度工作時，也不降低圖像質量，具有更大的數據采集效率。
•將十年的研發經驗融入到參數預設置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認的實驗模式。
•高分辨率相機和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置

多功能性

 

• 針尖和樣品之間的開放式空間，不僅可以進行各種標準實驗，也可以自行設計實驗方案，滿足不同研究工作的需求

• 硬件和軟件技術方面的不斷創新，新開發的HarmoniX 模式，可以測量納米尺度上材料性質

• 用戶實用程序腳本提供半自動測量和數據分析

性能

Dimension® Icon™優秀的分辨率，與Bruker*的電子掃描算法相結合，顯著提升了測量速度與質量。Dimension® Icon™是針尖掃描技術的革新，一直處于工業*地位的，配置溫度補償位置傳感器，實現了Z軸亞埃級和XY軸埃級的低噪音水平，將這個性能應用在90微米掃描范圍、大樣品臺系統上，效果甚至超過高分辨率原子力顯微鏡的開環噪音水平。XYZ閉環掃描頭的新設計使儀器在較高掃描速度工作時，圖像質量也不會被損壞，實現了更大的數據采集輸出量。

表現

使用Dimension系列原子力顯微鏡發表文章數目遠比其他大樣品臺原子力顯微鏡要多，成為研究領域非常受歡迎的原子力顯微鏡型號之一。Dimension Icon中，在原有的操作平臺上引入新技術，展現出更高的性能和更快的測量結果獲得。其軟件的直觀工作流程，使其操作過程比以往*的AFM技術更加簡便。Dimension Icon用戶可以立即獲得高質量的結果，而無需像以前一樣通常需要幾小時的專業調整。Dimension Icon的每個方面—從*開放式針尖樣品空間，到預軟件參數設置—都經過特殊設計以求達到無障礙操作和驚人的AFM易用性。

世界上靈活的平臺

Dimension Icon展現出的的性能，堅固度和靈活度幾乎可以實現以前只有在特制的系統中才能完成的所有測量。利用開放式平臺，大型或多元樣品支架和許多簡單易用的性能，把AFM的強大功能*展現在科研領域和工業領域的研究者面前，為高質量AFM成像和納米操作設定了新的標準。

強大的AFM控制器

通過NanoScopeV控制器，Dimension Icon能夠同時顯示和捕捉多達8幅圖像，并獲得在AFM針尖掃描大樣品時從未有過的信噪比。NanoScopeV作為第五代控制器，可以在8個渠道同時提供高速數據采集和高像素點成像(5120 x 5120)功能，允許研究者在時域上記錄和分析針尖-樣品相互作用時發生的納米級事件，這是AFM以前從未實現過的。
直觀圖形用戶界面可立即顯示八通道和廣大的控制器功能。左邊的圖像顯示的是在閉環模式下獲得三嵌段共聚物的形貌圖，5K x5K數據點，10μm掃描范圍。右邊的是放大到500nm范圍的圖像。

技術參數