Thick800A國產鍍層測厚儀 項       目 參        數 
測量元素范圍 Cl（17）-U（92） 
涂鍍層分析范圍 P（15）-U（92）可區分檢測電鍍鎳和化學鎳 
分析軟件 EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析 
軟件操作 人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤 
X射線裝置 W靶微聚焦加強型射線管 
準直器 ? 0.05 mm  ；? 0.1 mm；? 0.2 mm；? 0.5 mm；準直器任意選擇一種 
近測距光斑擴散度 10% 
測量距離 具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm) 
樣品觀察 1/2.5彩色CCD，變焦功能 
對焦方式 高敏感鏡頭，手動對焦 
放大倍數 光學38-46X，數字放大40-200倍 
樣品臺尺寸 500mm*360mm 
移動方式 高精密XY手動滑軌 
可移動范圍 50mm*50mm 
隨機標準片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um 
其它附件 聯想電腦一套、噴墨打印機、附件箱 

實驗表明，使用  Thick800A國產鍍層測厚儀對鍍件膜厚測試，結果度高，速度快（幾十秒），其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發后會發射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉變為模擬電信號；經過模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機進行處理；計算機的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息，通過數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態范圍寬，可從0.005μm到60μm。
天瑞儀器有限公司生產的能量色散X熒光光譜儀系列在電鍍檢測行業中：
(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可分析；
(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監測可進行快速檢測，檢測環境里的重金屬是否超標。
同時具有以下特點
快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口上的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態，設定儀器參數，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。
天瑞一直于分析儀器事業，相信天瑞會為電鍍行業的客戶提供有競爭力的解決方案和服務。
    天瑞儀器作為一個集儀器研發、系統設計、產品生產、服務提供為一身的綜合性儀器供應廠商，一直以來嚴格遵循“360°服務”的客戶服務理念，以提高顧客滿意度為根本目標，從服務力量、服務流程、服務內容等各個方面為客戶提供*的服務。
性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接全景或局部景圖像選取測試點 
軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果
技術指標
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
國產鍍層測厚儀鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低135eV
采用的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合