鍍層測厚儀THICK800A 工作原理
從X熒光分析測量原理可以看出鍍層被激發區的特征X射線的強度與鍍層和涂層元素含量多少成正比。在一定被激發區的測量區域內，鍍層和涂層元素百分比含量是固定的，因而所測得的X熒光強度與該測量范圍鍍層和涂層的厚度成一定正比例關系。在一定的厚度范圍內，鍍層和涂層的厚度與激發區的特征X射線的強度成正比例關系，因此只要測量該范圍內的X熒光強度值，即可算出鍍層和涂層的厚度。

 鍍層測厚儀THICK800A 應用領域
鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，         
□Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基-----□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
鋅基-----□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
應用優勢
1   快速：一般測量一個樣品只需要30S～300S，樣品可不處理或進行簡單處理；
2   無損：物理測量，不改變樣品性質；
3   ：對樣品可以分析；
4   直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然，定性分析速度快；
5   環保：檢測過程中不產生任何廢氣、廢水。
儀器配置                                            
1    硬件：主機壹臺，含下列主要部件： 
(1)   X光管                 (2) 半導體探測器
(3) 放大電路                (4) 高精度樣品移動平臺
(5) 高清晰攝像頭            (6) 高壓系統
(7) 上照、開放式樣品腔      (8）雙激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2   軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
3   計算機、打印機各一臺
計算機（品牌，P4，液晶顯示屏）、打印機（佳能，彩色噴墨打印機）
4   資料：使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。
5   標準附件
準直孔：0.1X1.0mm（已內置于儀器中）
參數規格
1   分析元素范圍：S-U
2   同時可分析多達5層以上鍍層
3   分析厚度檢出限達0.005μm
4   多次測量重復性可達0.01μm
5   定位精度：0.1mm
6   測量時間：30s-300s
7   計數率：1300-8000cps
8   Z軸升降范圍：0-140mm
9   X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D)
性能特點
1  滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求；
2 φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；
3 高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm；
4 采用高度定位激光，可自動定位測試高度；
5 定位激光定位光斑，確保測試點與光斑對齊；
6 鼠標可控制移動平臺，鼠標的位置就是被測點；
7 高分辨率探頭使分析結果更加；
8 良好的射線屏蔽作用；
9 測試口高度敏感性傳感器保護；
安裝要求：
1   環境溫度要求：15℃-30℃
2   環境相對濕度：<70%
3   工作電源：交流220±5V
4   周圍不能有強電磁干擾。
質量
1. 乙方對所出售本合同所規定的儀器進行終身維修；
2. 軟件免費升級：如有軟件升級，乙方將免費提供軟件升級，不再收取升級費用；
3. 保修條款
3.1. 儀器設備自驗收合格之日起免費保修1年；
3.2. 免費保修期內，維修相關費用全免；
Thick800A操作說明書：
1）          鼠標雙擊桌面上的“FpThick”軟件圖標：用戶使用“Administrator”，密碼：skyray
2）          進入測試軟件后，選擇“測試條件”
“打開”彈出以下：“確定”，即測試條件確定
3）          選擇“工作曲線”，如下圖：
選擇所需要的工作曲線，此處以Ni/Fe曲線為例，如下圖：
完成以上步驟后，工作曲線即已經選定4）          放入“Ag片”對儀器進行初始化

放好Ag片后初始化按鈕，初始化完成后，（峰通道為1105，計數率達到一定的數，如300以上）。5）          放入需要測試的樣品，“開始”鍵，輸入樣品名稱后“確定”測試完成后即可保持，的位置可以在桌面的“分析”快捷方式中的“鍍層”中找到。注意：測試鍍層樣品時，必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應的工作曲線測試。