天瑞儀器鍍層測厚儀標準片 

移動平臺：精密的三維移動平臺
樣品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
分析范圍：同時可以分析30種以上元素，五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準直器組合

  天瑞儀器鍍層測厚儀標準片 ,校正片,又稱標準箔,膜厚片,通用于所有X射線鍍層測厚儀(Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII、Elite、天瑞、華為計量等)，本公司有多種品牌，規格齊全，可批發零售 
1.薄膜片,單層測量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）； 銠（Rh）；鋅（Zn）；Cd（4）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）;鈀(Pd)等，其它鍍層可定制.
2.鍍層標準片:Au/Ni/Cu、Ag/Ni/Cu、Zn/Fe、ZnNi/Fe、Sn/Ni、Sn/Ni/Cu等等。
3.合準片：合金鍍層測量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.