鍍銀、鍍金、鍍鎳測厚儀Thick800A工作原理

X射線熒光什么是X射線?X射線存在于電磁波譜中的一個特定區域,它由原子內部電子躍遷產生,其波長范圍在0.1-100?;能量大于100電子伏特.什么是X射線熒光?X射線熒光 是一個原子或分子吸收了特定能量的光子后釋放出較低能量的光子的過程。

 鍍銀、鍍金、鍍鎳測厚儀Thick800A產品介紹
 
X熒光測厚儀生產生產廠家——江蘇天瑞儀器股份有限公司，新款Thick 800X熒光測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型鍍層膜厚測試儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定； 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。金屬鍍層分析儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、XRF鍍層測厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。功能：精密測量金屬電鍍層的厚度；應用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成。
測量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測試方法符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
技術指標
分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）
同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層
分析含量：一般為2ppm到99.9%
X熒光測厚儀鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）
SDD探測器：分辨率低135eV
的微孔準直技術：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度：15℃～30℃
性能優勢
1.精密的三維移動平臺
2.的樣品觀測系統
3.的圖像識別
4.輕松實現深槽樣品的檢測
5.四種微孔聚焦準直器，自動切換
6.雙重保護措施，實現無縫防撞
7.采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動自檢、復位；
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣；
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦；
直接全景或局部景圖像選取測試點；
軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示結果。

應用領域
金屬鍍層分析儀廣泛應用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛浴等行業。江蘇天瑞儀器公司總部在江蘇，蘇州昆山市，極大方面周邊企業的售后服務，同時在各省有技術服務網點。