高性能鍍層測厚儀THICK800A   

 產品指標：
測厚技術：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷   
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數：0-50Kv，50W，側窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：3種自動切換；
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環境：非真空條件
數據通訊：USB2.0模式
準直器：?1mm，?2mm，?4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區：開放工作區 自定義

 高性能鍍層測厚儀THICK800A   快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度
多款規格，例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺，滿足所有樣品類型
開槽式樣品艙可檢測大面積樣品，例如印制線路板等
符合ISO3487和ASTM B568檢測方法
鍍層厚度分析范圍：0.01~50um（材料不同，略有差別）
支持多點自動測試，方便對大樣品進行多點檢測
分析時間：0~50S（用戶可以根據要求自行調節）
相互獨立的基體效應校正模型、多變量非線性回收程序，支持非標樣FP法測試
儀器尺寸：576（W）×495（D）×545（H）mm
儀器重量：90KG