臺式全自動鍍層測厚儀THICK800A  特性：
X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務
由于測量距離可以調節（可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實現自動化的批量測試
使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）

   臺式全自動鍍層測厚儀THICK800A  應用：
THICK800A鍍層厚度測量
大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
電路板上較薄的導電層和/或隔離層
復雜幾何形狀產品上的鍍層
鉻鍍層，如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量
材料分析
電鍍槽液分析
電子和半導體行業中的功能性鍍層分析
江蘇天瑞儀器股份有限公司生產鍍層測厚儀，ROHS檢測儀，氣相色譜質譜聯用儀，電感耦合等離子體發射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測厚儀，氣相色譜儀，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF合金分析儀，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。