鍍層測(cè)厚儀EDX4500,天瑞儀器 特性：
檢出限低、重復(fù)精度高，以及測(cè)量適用性廣，因此特別適用于研究和開發(fā)使用
配備真空測(cè)量室和高性能硅漂移探測(cè)器，能夠?qū)崿F(xiàn)測(cè)量，尤其是對(duì)輕元素的測(cè)試
通過(guò)可編程 X、Y 和 Z 軸進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試
準(zhǔn)直器和濾波器可切換，因此可適用于各種材料和測(cè)試條件
EDX4500應(yīng)用：
EDX4500涂層厚度測(cè)量
原子序數(shù)從Na（11）開始的輕元素鍍層，可測(cè)量厚度低納米級(jí)
鋁鍍層和硅鍍層

 鍍層測(cè)厚儀EDX4500,天瑞儀器材料分析
測(cè)定寶石的真?zhèn)闻c原產(chǎn)地
 高分辨率痕量分析
江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀，ROHS檢測(cè)儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測(cè)厚儀，氣相色譜儀，ROHS測(cè)量?jī)x，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF合金分析儀，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測(cè)儀， ROHS檢測(cè)儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。