安徽鍍層測厚儀THICK800A,天瑞儀器 

 
上照式
測試組件可升降
高精度移動平臺
小孔準直器
高分辨率探測器
可視化操作
自動定位高度
自動尋找光斑
鼠標定位測試點
良好的射線屏蔽
超大樣品倉
測試口安全防護

 安徽鍍層測厚儀THICK800A,天瑞儀器 技術指標
X射線激發源：5OKV/1000μA-鎢靶X光管及高壓電源
探測器及分辨率：SDD探測器，分辨率140±5eV
分析元素范圍：原子序數16（S）～92（U）
分析元素及層數：一次可同時分析多達24種元素及5層鍍層
分析厚度范圍：檢測覆蓋層厚度一般在50μm以內
檢出限：鍍層金屬元素厚度薄可達0.005μm
定位精度：0.001mm
測量時間：10s及以上 
樣品平臺移動范圍：120mm×120mm
樣品腔升降平臺移動高度：0～150mm

儀器配置
硬件：主機壹臺，含下列主要部件
1.X光管                 2.半導體探測器
3.放大電路              4.高精度樣品移動平臺
5.高清晰攝像頭          6.高壓系統
7.上照、開放式樣品腔    8.雙激光定位
9.玻璃屏蔽罩
軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0

工作環境要求
環境溫度要求：15℃～30℃
環境相對濕度：<70%
工作電源：交流220±5V
周圍不能有強電磁干擾