鍍銅測厚儀_天瑞儀器

儀器采用下照式結構，適合平面樣品的檢測，配置的軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務可靠及時。
鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：1 光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-20052 
2 X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005
3 庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005

鍍銅測厚儀_天瑞儀器廠家優勢 

天瑞公司有完善的質量管理體系，從進口核心零部件的檢測開始，到儀器的組裝，數據的標定及考核，均嚴格把關，能夠很好的控制產品的質量。公司嚴格按ISO9001質量體系的要求，進行產品質量的管理，每道工序進行嚴格的檢驗，絕不允許不合格的流到下到工序；不合格的產品不出廠，堅決做到“三不”和“三不放過”，確保產品質量可靠，用戶使用放心。

測量標準

1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法
2.美國標準A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

應用領域

鍍層厚度分析；RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測；
合金成分分析；

測試步驟

1.每天開機預熱30分鐘后打開測試軟件“FpThick”：用戶使用“Administrator”，密碼：skyray
2.進入測試軟件后，選擇“測試條件”“確定”，即測試條件確定（儀器已設置好）
3.選擇“工作曲線”如待測樣品是鐵鍍鎳，則選擇Ni-Fe；其他依次類推
4.放入“Ag片”對儀器進行初始化初始化完成后，（峰通道為1105，計數率達到一定的數，如300以上）。
5.待測樣品測試放入待測的樣品，通過攝像頭畫面觀察當前放入的樣品的表面情況，以及儀器的X射線的聚焦點。可以通過軟件提供的十字坐標（也稱十字光標）來定位該聚焦點，將樣品放在聚焦點位置。“開始”，輸入樣品名稱后“確定”。
6.測試完成后即可保持報告，報告的位置可以在桌面的“分析報告”快捷方式中的“鍍層報告”中找到。
注意：測試鍍層樣品時，必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應的工作曲線測試。 

技術參數 

1   分析元素范圍：S-U
2   可分析多達3層以上鍍層
3   分析厚度檢出限達0.02μm
4   多次測量重復性可達0.05μm
5   定位精度：0.5mm5   測量時間：30s-300s
6   計數率：1000-8000cps
7  儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標樣為例，分析的范圍是0.02—30um，在這個范圍內，才能檢測。0.5-10um的，偏差是5%，就是說真值是1um，用儀器測試的值是0.95-1.05um。

性能優勢

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求準直器和濾光片手動切換：不同樣品材質用不同的準直器移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點高分辨率探測器：提高分析的性鍍銅測厚儀新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率 

硬件配置   
                                    
1. 探測器
2. 高、低壓電源
3. X光管                             
 4. MCA多道分析器
5. 高精密攝像頭
6. 移動平臺（自動）
7. 準直器
8. 標準樣品