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詳細摘要： 儀器種類：臺式/落地式能量色散型X熒光光譜、XRF

詳細摘要： 儀器種類：臺式/落地式能量色散型X熒光光譜、XRF

詳細摘要： 核心參數(shù)儀器種類：臺式/落地式能量色散型X熒光光譜、XRF

詳細摘要： 儀器種類：臺式/落地式能量色散型X熒光光譜、XRF行業(yè)專用類型：電子產品產地類別：進口元素分析范圍：Al(13)-U(92)

詳細摘要： 儀器種類：臺式/落地式能量色散型X熒光光譜、XRF元素分析范圍：Mg-U(Na-U option)分析含量范圍：0.1-99.9%能量分辨率：小于170eV重復...

詳細摘要： 產地類別：進口儀器

詳細摘要： 核心參數(shù)產地類別：進口儀器

詳細摘要： 核心參數(shù)儀器種類：多道型產地類別：國產儀器X射線光管功率：3kW分析元素種類：11Na-92U

詳細摘要： 被日本選為擁有“可對土壤污染進行調查（重金屬）的建議迅速分析技術"的土壤分析儀。

詳細摘要： 主要特點：※　可對應 ● 《電子信息產品污染控制管理辦法》　　 ●　WEEE & RoHS及ELV指令　　 ●　玩具中有害重金屬的檢測　　 ●　無鉛焊錫分析、無...

詳細摘要： 主要特點：可對應的相關指令和法規(guī)《電子信息產品污染控制管理辦法》WEEE ＆歐盟RoHS中國Rohs汽車ELV指令，企業(yè)SOC規(guī)定歐盟EN-71指令玩具中有害重...

詳細摘要： 前，在使用原子吸收光度計或ICP-MS/OES時，需要在開始測量前，對樣品進行預處理，因此較為繁瑣。而且，預處理需要掌握熟練的技術，因而時常出現(xiàn)測量結果因人而異...

詳細摘要： 由于時間關鍵型過程控制或運行樣品高處理量，您是否需要在幾秒鐘內對化學成分進行無損分析？ 同時測量多達 28 種元素，濃度范圍為從 ppm 至 100％，馬爾文帕...

詳細摘要： 2830 ZT 波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 晶圓分析儀提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圓分析儀專門針對半導體和數(shù)據(jù)存儲行業(yè)而...

詳細摘要： X 射線熒光光譜 (XRF) 能夠對多種材料進行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專為滿足要求嚴苛的流程控制和研發(fā)應用需求而設計，其高品...

詳細摘要： 技術參數(shù)：分析對象:4Be-92U分光系統(tǒng):波長色散式X射線發(fā)生部X射線管:端窗式Rh靶 4kW或3kW高壓發(fā)生器:高頻變頻器方式額定電壓,電流:4kW,60k...

詳細摘要： 儀器種類：多道型產地類別：進口儀器X射線光管功率：4kw分析元素種類：4Be-92U

詳細摘要： 核心參數(shù)儀器種類：掃描型產地類別：進口儀器X射線光管功率：200W分析元素種類：8O-92U

詳細摘要： 產品介紹Mini-Z 臺式波長色散型X射線熒光光譜儀(XRF)直接檢測，無需樣品前處理。

詳細摘要： 心參數(shù)儀器種類：掃描型產地類別：進口儀器X射線光管功率：40W分析元素種類：S