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詳細摘要： FE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料...

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詳細摘要： 具有紫外可見區8Abs、近紅外區7Abs的測光范圍 ?近紅外區 在近紅外區配置高靈敏度的 InGaAs 檢測器。 直入射檢測器通過安裝集成放大器的檢測器實現低噪...

詳細摘要： 備受贊譽的Thermo Scientific K-Alpha X射線光電子能譜儀（XPS）集合了性能、快速分析及杰出的靈敏度、分辨率等優勢。K-Alpha將前沿...

詳細摘要： 表面和界面分析充滿了挑戰，需要一款儀器能夠為后續的研發改進提供可靠的結果。Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 表面...

詳細摘要： Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi+是新研發出的一款基于ESCALAB 250Xi產品后，具有可擴展功能、多種分析技術集成化...

詳細摘要： 標準主機包含Mg/Al Kα雙陽極非單色化X射線源，可實現高靈敏度大面積XPS分析，可增加高溫催化反應池等。

詳細摘要： Thermo Scientific™ ESCALAB™ QXiX 射線光電子能譜儀（XPS）是ESCALAB 系列產品。作為可擴展的多技...

詳細摘要： 島津/Kratos公司的AXIS SUPRA+作為光電子能譜儀傳承了上一代產品高度智能化的優點，將采譜、成像功能與自動化高度相融合，保證了高樣品吞吐量和易用性，...

詳細摘要： The PHI 5000 Versaprobe II (VP-II) 能提供高性能的微區光譜，化學成像，二次電子成像，具有離子與電子雙中和系統，以及可以在極低電...

詳細摘要： 智能化軟件提示維護時間以此消除儀器宕機時間 可靠的自動化使得樣品輸出量， 簡單易用的系統幫助快速收回投資成本

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詳細摘要： 波通DA7350采用全息固定光柵分光、二極管陣列檢測器檢測光信號、全固定光學系統等技術，毫秒級并行采集全檢測波段光譜信息，分光速度快，體積小，方便安裝。

詳細摘要： 波通DA 7440™ 是一種*、現代和多功能的在線近紅外傳感器，用于生產線在線測量。它在加工線上對產品進行實時多組分測量，為過程控制和質量監控提供信...

詳細摘要： FT 9700是一款全波長范圍的高性能傅里葉變換近紅外光譜儀，適用于分析各類產品。技術設計*、采樣穩定，可實現可靠測量。

詳細摘要： 日立新一代全數字化120kV透射電子顯微鏡HT7800，操作的一體化和自動化程度都有明顯提高。

詳細摘要： 日立高新場發射掃描電子顯微鏡SU8200系列（HITACHI UHR FE-SEM SU8200 Series，SU8220，SU8230，SU8240）采用日...

詳細摘要： 日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發售的肖特基式場發射掃描電子顯微鏡“SU5000“，搭載了全新的用戶界面和“EM Wizard“，無論用戶的操...

詳細摘要： 日立高新技術公司于2016年4月15日在全球發布了新型掃描電子顯微鏡——FlexSEM 1000。該產品結構緊湊，占地面積小，但分辨率不輸大型電鏡，同時操作極其...

詳細摘要： “Regulus系列“是日立高新技術的FE-SEM的全新品牌，包括作為SU8010的后續機型開發的 “Regulus8100“ 以及SU8200系列的升級 “R...