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| 應用領域 | 電子,綜合 |
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TH2826 系列元件測試儀是符合 LXI 標準的新一代阻抗測試儀器，其 0.1% 的基本精度、 20Hz ～ 5MHz 的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求，可測量低 ESR 電容器和高 Q 電感器的測量。可用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析。
產品簡介
詳細介紹
TH2826高頻LCR數字電橋
TH2826高頻LCR數字電橋
簡介
TH2826 系列元件測試儀是符合 LXI 標準的新一代阻抗測試儀器，其 0.1% 的基本精度、 20Hz ～ 5MHz 的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求，可測量低 ESR 電容器和高 Q 電感器的測量。可用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析。 TH2826 系列產品是電子元器件設計、檢驗、質量控制和生產測試強有力的工具。其超 高速的測試速度使其特別適用于自動生產線的點檢機，壓電器件的頻率響應曲線分析等 等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個電感變壓器廠家的不同標準需求。TH2826 系列產品 以其性能可以實現商業標準如 IEC 和 MIL 標準的各種測試。
應用
無源元件
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析
半導體元件
LED驅動集成電路寄生參數測試分析；變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析
其它元件
印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估
介質材料
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
磁性材
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體材料
半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
液晶單元
介電常數、彈性常數等C-V特性
測試參數
C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率
TH2826
20 Hz～5MHz,10mHz步進
測試信號電平
f≤1MHz
10mV～5V,±（10%+10mV）
f>1MHz
10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗
10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準確度
0.1%
顯示范圍
L
0.0001 uH ～ 9.9999kH
C
0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR
0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
Y, B, G
0.0001 nS ～ 99.999 S
D
0.0001 ～ 9.9999
Q
0.0001 ～ 99999
θ
-179.99°～ 179.99°
測量速度
快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準功能
開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準
等效方式
串聯方式, 并聯方式
量程方式
自動, 保持
顯示方式
直讀, Δ, Δ%
觸發方式
內部, 手動, 外部, 總線
內部直流偏
電壓模式
-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進
置源
電流模式（內阻為50Ω）
-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進
比較器功能
10檔分選及計數功能
顯示器
320×240點陣圖形LCD顯示
存儲器
可保存20組儀器設定值
接口
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
LAN(LXI class C support)
RS232C
HANDLER
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