T-450采用高精度X射線熒光(HDXRF)技術(shù)，通過采用*單色和聚焦光學(xué)器件雙曲面彎晶光學(xué)晶體(DCC),將設(shè)備信噪比大幅提高，使得與傳統(tǒng)能量色散X射線熒光技術(shù)(EDXRF)相比的檢測精度大大提升。圖1顯示了HDXRF技術(shù)設(shè)備基本結(jié)構(gòu)，雙曲面彎晶光學(xué)晶體(DCC)將來自射線源的多色光轉(zhuǎn)入高能單色光并有效聚焦到測量樣品上，樣品經(jīng)聚焦后的高能單色光束激發(fā)后其中的重金屬元素發(fā)射出各自的特征X射線熒光信號，高分辨率SDD半導(dǎo)體檢測器對信號進(jìn)行收集與處理，最后由軟件FP算法計算得出樣品中所含元素含量。

表4.檢出限(單位：mg/kg)

元素

鎘(cd)

鉛(Pb)

砷(As)

檢出限

0.015

0.025

0.025

規(guī)格

T-450

合規(guī)性

GB2762-2017

測量方法

高精度X射線熒光光譜法-HDXRF

X射線管

50kV,1mA

探測器

Fast SDD探測器

光學(xué)系統(tǒng)

雙曲面彎晶晶體-DCC

測量時間

30s-1200s可選

測量范圍

分析元素：Cd,Ni, Cu, Zn,As,Pb等

工作溫度

-5℃~50℃

鎘的合規(guī)檢測

T-450基于HDXRF@技術(shù)，可快速準(zhǔn)確定量分析食物、糧食中鎘等重金屬元素，

檢測性能可以滿足中國食品安全國家標(biāo)準(zhǔn)要求-檢出限輕松應(yīng)對大米中鎘元素的法規(guī)限值0.2mg/kg。

此外，T-450亦可對大米中的砷進(jìn)行初步篩選定性分析。

快速掃描

T-450重量輕體積小，方便攜帶，操作簡單，無需復(fù)雜的樣品制備步驟，

輕松實現(xiàn)工作現(xiàn)場快速準(zhǔn)確掃描分析的需要，其結(jié)果如表2所示。

1、兩分鐘快速掃描；

2、快速區(qū)分超標(biāo)，合格，灰色地帶樣品；

儀器特點

1、不需要化學(xué)消解，測試速度快；

2、元素檢出限低，符合GB2762-2017;

3、分析模式：定性掃描分析模式、定量分析模式。

準(zhǔn)確性和重復(fù)性

選取一定數(shù)量大米標(biāo)準(zhǔn)樣品，對其中的Cd鎘元素進(jìn)行直接分析，

通過分析其測量值與標(biāo)準(zhǔn)值的相對誤差來考察儀器的測試準(zhǔn)確性。

表3數(shù)據(jù)表明HDXRF在高低鎘含量檢測均可提供精確、穩(wěn)定的結(jié)果，

0.2和0.1mg/kg樣品的分析誤差通常小于10%。