工業顯微鏡 ECLIPSE LV150NA和LV150N （純反射型）

尼康金相顯微鏡LV150N/LV150ND這一系列半導體顯微鏡采用純反射照明，支持的鏡檢方式有：明場、暗場、微分干涉、偏光、熒光、雙光束干涉，可搭載數碼相機，常用于半導體、集成電路及其它各種材料的檢查。

模塊化設計、有電動型與手動型

采用尼康CFI60-2光學系統設計，成像清晰；可搭配數碼相機拍照；模塊化設計，方便應對各種功能擴展。

尼康ECLIPSE LV150NA和LV150N

主要用于半導體、工業材料和零部件檢查，以及產品研發。

尼康CFI60-2光學系列物鏡

尼康的創新設計，支持實現清晰的、高對比度的明場、暗場、熒光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）鏡檢，以及雙光束干涉測量。

尼康Digital Sight數碼相機

尼康全系列Digital Sight數碼相機都能高效地進行拍照，并通過LV-ECON將當前在用物鏡、倍率轉換設置和照明光亮度等參數一起傳送到NIS-Elements顯微鏡圖像處理軟件中。

LV150N與NWL200聯合使用

在半導體行業中得到廣泛認可和信任，目前有許多裝置在使用。

產品亮點

多種鏡檢方式

反射照明。可選擇的鏡檢方式有：明場、暗場、偏光（POL）和微分干涉（DIC）、熒光和雙光束干涉。

多種配件

有多種配件可供用戶選擇。

載物臺、物鏡、物鏡轉換器、目鏡、目鏡筒、數碼相機、濾光片和偏光片等。

數字化智能通信

LV150NA和LV150N可以通過尼康的NIS-Elements軟件，并通過LV-ECON E控制器操控電動物鏡轉換、光闌動作、照明亮度、電動調焦等。

LV150N可檢查、報告LV-NU5I和LV-INAD上使用的物鏡。

人體工程學設計

使用傾角可調的目鏡筒，可使操作者更為舒適地觀察樣品，消除疲勞。

主要用于觀察原材料、半導體和工業零部件。

核心功能

材料和半導體檢查

示例應用包括半導體基板和器件封裝、平板顯示器（FPD）、電子元件和創新材料，可根據需要選擇合理的鏡檢方式。

尺寸

技術規格：