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宇航志達試驗裝備（東莞市）有限公司
主營產品： 兩箱式高低溫沖擊箱,高低溫實驗試驗箱,恒定高低溫試驗箱 |
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宇航志達試驗裝備（東莞市）有限公司
主營產品： 兩箱式高低溫沖擊箱,高低溫實驗試驗箱,恒定高低溫試驗箱 |
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| 產品圖片 | 產品名稱 | |||
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PCT高壓壽命加速老化箱/試驗箱 簡單介紹：PCT高壓壽命加速老化箱/試驗箱武漢廠家外箱均采用304不銹鋼板，圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業容器標準，可防止試驗中結露滴水設計 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-04 |
參考價:¥58600 詢價留言 | ||
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非飽和高壓PCT加速壽命老化箱/試驗箱 簡單介紹：非飽和高壓PCT加速壽命老化箱/試驗箱 控制器運算采用模糊算法，技術控制，精度高，使之達到效果；7″TFT真彩LCD觸摸屏，比其它屏更大。控制器人機界面互動友好形式設計，操作方便，運行更可靠。具有USB接口直接拷貝記錄功能，包括歷史曲線，歷史數據等，直接拷貝到計算機查看分析及存盤。可選RS-232或RS-485通訊接口,可雙向操控機器及計算機硬盤儲存數據。 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-04 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
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PCT高壓加速老化箱/試驗箱 簡單介紹：PCT高壓加速老化箱/試驗箱用于電工、電子、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在高低溫環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產品的耐高溫、耐低溫、循環試驗。 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-04 |
參考價:¥61500 詢價留言 | ||
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PCT高溫高壓蒸煮加速耐老化試驗箱/機 簡單介紹：PCT高溫高壓蒸煮加速耐老化試驗箱/機加速老化試驗雙重過熱保護裝置，當鍋內溫度過高時，機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-04 |
參考價:¥65200 詢價留言 | ||
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PCT高壓加速老化試驗箱 簡單介紹：PCT高壓加速老化試驗箱用于電工、電子、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在高低溫環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產品的耐高溫、耐低溫、循環試驗。 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-04 |
參考價:¥68500 詢價留言 | ||
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YH-HAST-450非飽和高壓加速老化試驗箱 簡單介紹：非飽和高壓加速老化試驗箱 控制器運算采用模糊算法，技術控制，精度高，使之達到效果；7″TFT真彩LCD觸摸屏，比其它屏更大。控制器人機界面互動友好形式設計，操作方便，運行更可靠。具有USB接口直接拷貝記錄功能，包括歷史曲線，歷史數據等，直接拷貝到計算機查看分析及存盤。可選RS-232或RS-485通訊接口,可雙向操控機器及計算機硬盤儲存數據。 產品型號：YH-HAST-450 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-04 |
參考價:¥126800 詢價留言 | ||
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PCT高壓加速壽命加老化測試試驗箱 簡單介紹：PCT高壓加速壽命加老化測試試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-04 |
參考價:¥56800 詢價留言 | ||
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YH-PCT中山PCT氣候高壓加速老化試驗箱 簡單介紹：中山PCT氣候高壓加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產品型號：YH-PCT 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-04 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
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首頁-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗儀 簡單介紹：首頁-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗儀主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-03 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
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首頁高溫蒸煮儀高壓加壓加速老化壽命試驗機 簡單介紹：首頁高溫蒸煮儀高壓加壓加速老化壽命試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-03 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
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PCT高壓加速壽命老化試驗箱/hast加速老化箱 簡單介紹：PCT高壓加速壽命老化試驗箱/hast加速老化箱用于電工、電子、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在高低溫環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產品的耐高溫、耐低溫、循環試驗。 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-03 |
參考價:¥56900 詢價留言 | ||
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PCT高壓加速壽命老化試驗箱 簡單介紹：PCT高壓加速壽命老化試驗箱高壓加速老化試驗雙重過熱保護裝置，當鍋內溫度過高時，機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-03 |
參考價:¥59800 詢價留言 | ||
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線路板高壓濕熱加速老化試驗機通電測試箱廠 簡單介紹：線路板高壓濕熱加速老化試驗機通電測試箱廠 PCT試驗箱 高壓加速老化試驗雙重過熱保護裝置，當鍋內溫度過高時，機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-03 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
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IC半導體通電測試高壓加速老化濕熱試驗箱 簡單介紹：IC半導體通電測試高壓加速老化濕熱試驗箱 高壓加速老化試驗箱武漢廠家外箱均采用304不銹鋼板，圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業容器標準，可防止試驗中結露滴水設計 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-03 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
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高壓加速老化試驗箱（PCT）/精密高溫高壓老化 簡單介紹：高壓加速老化試驗箱（PCT）/精密高溫高壓老化主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-03 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
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高溫高壓環境加速試驗箱/高壓加速測試箱 簡單介紹：高溫高壓環境加速試驗箱/高壓加速測試箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-03 |
參考價:¥61800 詢價留言 | ||
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可程式高壓加速老化箱/hast高壓壽命試驗機 簡單介紹：可程式高壓加速老化箱/hast高壓壽命試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-03 |
參考價:¥56900 詢價留言 | ||
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Pct高壓加壓加速老化壽命試驗機/高壓測試箱 簡單介紹：Pct高壓加壓加速老化壽命試驗機/高壓測試箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-03 |
參考價:¥52900 詢價留言 | ||
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高溫高壓蒸煮儀/非飽和高壓加速老化試驗箱 簡單介紹：高溫高壓蒸煮儀/非飽和高壓加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產品型號： 所在地：東莞市 更新時間：2024-08-03 |
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