 | KEWLAB-杭州秋籟科技有限公司 |
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HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀
| 參考價 | 面議 |
具體成交價以合同協議為準
- 型號
- 品牌 KEWLAB/澳洲
- 廠商性質 生產商
- 所在地 杭州市
更新時間：2024-12-12 15:02:42瀏覽次數：885
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產品簡介
HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀采用高分辨率光機平臺，配置先進的線陣探測器，是一款結構緊湊、攜帶方便的微型光纖光譜儀。
HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀的探測器響應范圍為315-1100nm，用戶可以選擇不同的光柵配置，得到不同的光學分辨率和光譜響應范圍，以滿足不同的應用需求。另外針對其它波段300-750nm/380-900nm/800-1000nm等，可以提供OEM定制。
性能特點：
-
結構緊湊，便于攜帶與系統集成
-
交叉非對稱C-T光路結構，干涉濾光片消二級衍射，有效抑制雜散光
-
315～1100nm寬光譜響應均衡
-
高靈敏響應，實現弱光探測
-
多種狹縫、透鏡、光柵可選，搭配靈活
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USB通信，即插即用，高速傳輸
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支持二次開發，支持OEM集成
應用領域：
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激光器中心波長測量
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透射/反射測量
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輻射測量
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吸光度測量
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薄膜測量
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顏色測量
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熒光測量
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激光光譜測量
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太陽光譜測量
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LIBS光譜測量
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生化、醫學分析
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農業與食品檢測
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水質分析檢測
| 探測器 | TOSHIBA TCD1304線陣CCD |
|---|---|
| 波長范圍 | 700nm-1100nm |
| 工作溫度 | 5℃ -35℃（推薦溫度25℃） |
| 像素 | 3648像素，每個像元8µm ×200 µm |
| 狹縫 | 5μm |
| 光學分辨率 | ~0.3nm |
| 信噪比 | 300:1全光譜 |
| 線性度 | >99% |
| 雜散光 | <0.1% (600nm, 435nm) |
| A/D | 16 bit |
| 積分時間 | 4ms - 10s |
| 動態范圍 | 300:1 |
| 功耗 | 250 mA, 5 VDC |
| 通信接口 | USB2.0（12Mbps） RS232（115200bps） |
| 外觸發模式 | 軟件觸發，硬件觸發，同步觸發 |
| 光纖接口 | SMA905 |
| 電源 | USB 或 5VDC |
| 尺寸 | 140mm x 110mm x 46mm |
| 儀器重量 | 0.7 Kg |
| 微軟操作系統 | Win XP, Win7,Win8, Win10 |
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