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詳細介紹
LZ-373雙膜測厚儀日本凱特科學研究所
雙膜測厚儀LZ-373
無損檢測設備
它是一種緊湊且輕巧的緊湊型機身，可測量非磁性金屬上絕緣膜的厚度，并且可以測量相對薄的厚度，例如鋁礬土。
LZ-373是一種雙類型膜厚計，可以測量磁性材料和非磁性金屬上的膜厚。它是處理各種材料和各種涂層的領域合適的膜厚計。
LZ-373雙膜測厚儀日本凱特科學研究所
特征
與傳統的膜厚計相比，數據存儲器和兼容標準有所增加。
它是雙重類型。
這是一款袖珍型膜厚計，具有電磁和渦流測量功能。
配備有足夠的功能作為膜厚計。
應用程序選擇，基準校正，數據刪除，數據存儲器，上下限設置，統計計算（測量計數，平均值，標準偏差，大值，小值），顯示選擇，日期/時間，自動關閉時間，背光亮度可以根據需要設置16種功能，例如背光時間，單位，數據輸出，自動批次分類，測量方法和維護模式。
應用程序存儲器（校準曲線存儲器）功能。
電磁型和渦流型各有50種，總共存儲了100種已調整的應用程序（校準曲線），因此第二次即可進行相同的測量，而無需進行麻煩的調整。即使關閉電源，該存儲器也不會被擦除。
緊湊輕巧的機身。
尺寸為寬75mm，長145mm，厚31mm，質量340g。由于尺寸可以一只手握住，因此可以輕松地在測量現場使用。
測量原理
電磁法（磁性金屬上非磁性涂層的測量）
當交流電磁鐵接近鐵（磁性金屬）時，進近距離會改變穿透線圈的磁通量，從而改變線圈兩端的電壓。從電流值讀取該電壓變化，并使用電磁膜厚計將其轉換為膜厚，該膜厚計用于測量磁性金屬上的非磁性涂層。
渦流法（非磁性金屬上的絕緣膜的測定）
當具有恒定高頻電流的線圈靠近金屬時，金屬表面會產生渦流。該渦電流根據線圈和金屬表面之間的距離而改變，因此線圈兩端的電壓也改變。渦流型膜厚計從電流值中讀取該變化并將其轉換為膜厚，用于測量非磁性金屬上的絕緣膜。
測量對象的適用
| 基礎 | 測量膜 |
|---|---|
| 鋼鐵 | 鋁，銅錫，鉻，鋅，襯里，搪瓷，橡膠樹脂，漆，塑料等 |
| 鋁，銅，黃銅等 | 樹脂，清漆，搪瓷，塑料，橡膠，鋁礬土（陽極氧化膜），涂料等。 |
屏幕顯示
經常問的問題
可以測量鍍膜嗎？
規范
| 測量方式 | 電磁感應式/渦流式 |
|---|---|
| 被測物 | 磁性金屬上的非 磁性涂層 磁性金屬上的絕緣涂層 |
| 測量范圍 | 電磁感應類型：0至2500μm或99.0密耳 渦流類型：0至1200μm或47.0密耳 |
| 測量精度 | 小于50μm：±1μm，50μm或以上但小于1000μm：±2％ 1000μm或以上：±3％ |
| 解析度 | 小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1μm |
| 符合標準 | 電磁感應類型：JIS K5600-1-7，JIS H8501，JIS H0401，ISO 2808，ISO 2064，ISO 1460，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499，ASTM D 7091-5，ASTM E 376 渦流類型：JIS K5600-1-7，JIS H8680-2，JIS H8501，ISO 2808，ISO 2360，ISO 2064，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5，ASTM E 376 |
| 數據存儲器數 | 約39,000點 |
| 校準曲線記憶 | 應用存儲器：50電磁感應型，50渦流型 |
| 附加功能 | 應用程序選擇，基礎校正，數據刪除，數據存儲器，上下限設置，統計計算（測量計數，平均值，標準偏差，大值，小值），顯示選擇，日期/時間，自動關閉時間，背光亮度，背光時間，單位，數據輸出，自動批次分類，測量方法，維護方式 |
| 探測 | 單點接觸恒壓型（LEP-J，LHP-J） |
| 顯示方式 | 數字（背光LCD 128 x 64點，小顯示位數0.1μm） |
| 外部輸出 | 可以輸出到PC（USB或RS-232C） |
| 電源供應 | 電池1.5V（AA堿性）x 4 |
| 能量消耗 | 80mW（背光關閉時） |
| 電池壽命 | 100小時（無背光，連續使用） |
| 工作環境溫度 | 0-40°攝氏度 |
| 尺寸/質量 | 75（W）x 145（D）x 31（H）毫米，0.34千克 |
零件
- 身體
- 標準板x 5（50μm，100μm，300μm，500μm，1000μm）
- 零板支架（鐵基/非鐵基）
- 鐵探針（LEP-J）
- NFe探針（LHP-J）
- 探頭適配器
- 數據管理軟件（CD-R）
- PC電纜（RS-232C）
- RS-232C USB轉換器
- 儲物箱
- 說明書
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