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產品簡介
日本三菱低電阻率自動測量儀 小型映射系統 MCP-S330 型
詳細介紹
日本三菱低電阻率自動測量儀 小型映射系統 MCP-S330 型
表面電阻率[Ω/τ]，體積電阻率[Ω·cm]不受樣品形狀影響
導電薄膜、金屬、ITO薄膜等薄膜厚度和成分的變化一目了然
可映射高達 300mm 的樣品，并連續測量多個樣品
與洛雷斯塔 GX 連接，可測量 10-4 至 10+7 Ω 范圍
*自動化測量、計算、數據處理和 3d 圖形輸出
導電薄膜、金屬、ITO薄膜等薄膜厚度和成分的變化一目了然
對顯示裝置（液晶和有機EL）的高速響應，對精細化的要求，電極基板的均勻性變得更加重要。
表面電阻率取決于材料。 如果材料均勻，則薄膜厚度和表面電阻率減小。
在薄膜領域，通過繪制表面電阻率圖來評估薄膜厚度的變化。
Metrol HT-STM82A
Bando A-13CBR/F 15W *1.1T *480mm
Shinetsu ST-15DG
MASPRO 4SPFW
Anywire BL227XB-K02VL-P
ARIMITSU RG-313R
HIOKI L2100
JEOL NO.804500070
HIOKI U8552
ASAHIENG HSM-5028H