當前位置:廣州鴻熙電子科技有限公司>>X射線熒光光譜儀>>X射線鍍層測厚儀>> iEDX-150μWTX射線測厚儀
分析含量范圍 | 0.1%-99.9% | 價格區間 | 50萬-100萬 |
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能量分辨率 | 125eV | 行業專用類型 | 通用 |
儀器種類 | 臺式/落地式 | 應用領域 | 化工,電子 |
元素分析范圍 | 13(Al)-92(U) | 重復性 | 3% |
(一)iEDX-150μWT X射線測厚儀產品優勢
1. 鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩定性高(見以下產品特征詳述)。
2. 多導毛細管配置,光斑尺寸50um
3. 平臺尺寸:620*525mm,樣品移動距離可達250*250mm。
4. 激光定位。
可檢測軟硬板電鍍層厚度。
運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低。
可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。
操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性,快速出檢測結果。
可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
軟件*升級。
無損檢測,一次性購買標樣可長期使用。
使用安心無憂,售后服務響應時間24H以內,提供*保姆式服務。
可以遠程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。
(二)iEDX-150μWT X射線測厚儀產品特征
高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數字轉換器)。
Multi Ray. 運用基本參數(FP)軟件,通過簡單的三步進行無標樣標定,使用基礎參數計算方法,對樣品進行精確的鍍層厚度分析。
MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度分析
多鍍層厚度同時測量
4.1 單性金屬鍍層厚度測量。
4.2 合金鍍層厚度測量。
4.3 雙鍍層厚度測量。
4.4 雙鍍層(其中一層是合金)厚度測量。
4.5 三鍍層厚度測量。
4.6 測量點大小:50um。
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