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詳細(xì)介紹
Vanta手持式XRF元素分析儀
產(chǎn)品特點(diǎn)
一、經(jīng)濟(jì)實(shí)用
Vanta Element手持式XRF系列分析儀可以對元素進(jìn)行分析，從而可使用戶快速完成合號的辨別和分揀。
二、合金辨別
Vanta Element-S分析儀可以完成合金辨別,并探測到包含鎂(Mg)、鋁(Al）、硅(Si）、硫(S)和磷(P)在內(nèi)的輕元素.
這兩種型號的分析儀都可以快速辨別合號,并在屏幕上清楚地顯示牌號對比信息,從而可加速金屬檢測,有效完成廢料分揀、金屬制造和貴金屬分析等應(yīng)用.
類似于智能手機(jī)的用戶界面,易于學(xué)習(xí),使用方便,有助于簡化用戶的培訓(xùn)過程和分揀過程.
三、連通性
Vanta Element系列分析儀具有連通性能,有助于簡化廢料金屬的回收和質(zhì)量控制過程.
四、重復(fù)性的結(jié)果
Vanta分析儀的電子部件
Axon技術(shù)的穩(wěn)定性和計(jì)數(shù)率
五、方便的數(shù)據(jù)管理
具有無線連通性能(可選配)，可方便地將數(shù)據(jù)傳輸?shù)骄W(wǎng)絡(luò)上的文件夾中
使用奧林巴斯的科學(xué)云系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)云數(shù)據(jù)存儲，并可實(shí)時(shí)以遠(yuǎn)程方式查看數(shù)據(jù)
直接將數(shù)據(jù)導(dǎo)出到USB驅(qū)動(dòng)盤中。
用于存儲結(jié)果的1GB工業(yè)用microSD卡
六、堅(jiān)固耐用
可用于條件惡劣的環(huán)境中，且其擁有成本較低。
符合IP54評級標(biāo)準(zhǔn)，具有防塵和防潮的特性。
通過墜落測試(MIL-STD-810G)，可避免分析儀在墜落時(shí)受到損壞，從而減少了高成本維修。
經(jīng)過評定，在-10 °C到45 °C的溫度范圍內(nèi)，可以持續(xù)進(jìn)行檢測。
防磨不銹鋼面板。
無需使用工具即可方便地更換窗口。
Vanta分析儀的技術(shù)規(guī)格：
Vanta Element型號 | Vanta Element-S型號 | |
外型尺寸（寬 × 高 × 厚） | 8.3 × 28.9 × 24.2 cm | |
重量 | 帶電池時(shí)1.54公斤；不帶電池時(shí)1.32公斤。 | |
激勵(lì)源 | 2瓦特X射線管，35 kV鎢陽極靶材 | 4瓦特X射線管，50 kV銀（Ag）陽極靶材 |
主光束濾光片 | 8種濾光片位置，根據(jù)選擇的光束和方式自動(dòng)匹配 | |
探測器 | Si-PIN探測器 | 硅漂移探測器（SDD） |
電源 | 14.4 V可拆卸鋰離子電池，或者18 V電源變壓器，100 ～ 240 VAC，50 ～ 60 Hz，最大70 W | |
顯示屏 | 800 × 480（WVGA）電容式液晶顯示觸摸屏，可使用手指進(jìn)行控制 | |
操作環(huán)境 | 溫度：?10 °C ～ 45 °C，100 %占空比 | |
墜落測試 | 通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)810-G中的從4英尺（1.22米）高處墜落的測試 | |
IP評級和探測器快門閘保護(hù) | IP54：防塵，而且可經(jīng)受來自各個(gè)方向的水濺。 | |
操作系統(tǒng) | Linux | |
數(shù)據(jù)存儲 | microSD插槽，并提供1 GB工業(yè)用可插拔SD卡 | |
USB | 2個(gè)USB 2.0 A型主端口，用于諸如無線局域網(wǎng)、藍(lán)牙和USB閃存驅(qū)動(dòng)盤等配件。 | |
無線局域網(wǎng) | 通過可選配的USB適配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz）無線局域網(wǎng)功能。 | |
藍(lán)牙 | 通過可選配的USB適配器，支持藍(lán)牙功能 | |
質(zhì)保 | 1年質(zhì)保 | |
可選購配件 | 野外臺座、土壤支架和機(jī)套 | |
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