適用于REVO系統(tǒng)的SFP2表面粗糙度檢測(cè)測(cè)頭

REVO^® SFP2使表面粗糙度檢測(cè)與坐標(biāo)測(cè)量機(jī) (CMM) 測(cè)量程序整合。

表面光潔度/表面粗糙度測(cè)量

表面粗糙度測(cè)量傳統(tǒng)上離不開手持式傳感器的使用或需要將工件搬運(yùn)到測(cè)量機(jī)上。REVO多類型傳感器系統(tǒng)*突破了上述局限，它將表面粗糙度檢測(cè)整合到坐標(biāo)測(cè)量機(jī) (CMM) 測(cè)量程序中，可讓用戶在掃描測(cè)量與表面粗糙度檢測(cè)之間切換。該*功能還可將表面粗糙度分析*整合到一份測(cè)量報(bào)告中。

在五軸測(cè)量技術(shù)的支持下，SFP2的自動(dòng)化表面粗糙度檢測(cè)可顯著節(jié)省時(shí)間，減少工件搬運(yùn)，并獲得更高的CMM投資回報(bào)。

SFP2系統(tǒng) — 特性與優(yōu)點(diǎn)

SFP2系統(tǒng)由測(cè)頭和一系列模塊組成，能夠與REVO的其他測(cè)頭自動(dòng)交換，靈活性高，有助于在同一CMM平臺(tái)上輕松選擇工具檢測(cè)多種特征。由多個(gè)傳感器采集的數(shù)據(jù)自動(dòng)參照同一基準(zhǔn)。

• 由于可使用MRS-2交換架以及RCP TC-3端口自動(dòng)交換SFP2測(cè)頭和測(cè)針吸盤，因此實(shí)現(xiàn)了表面粗糙度測(cè)量與標(biāo)準(zhǔn)CMM檢測(cè)程序的*整合。
• SFP2測(cè)頭充分利用REVO-2測(cè)座的無(wú)級(jí)定位和五軸運(yùn)動(dòng)能力。
• SFP2包括一個(gè)集成式C軸，還可與各種幾何形狀的測(cè)尖配用，并且模塊和測(cè)針吸盤之間采用鉸鏈連接，這些因素使得SFP2能夠檢測(cè)難接近的特征。

測(cè)頭特性

• SFP2是滑動(dòng)式測(cè)頭，具有2 μm半徑的金剛石測(cè)尖?；劳ㄟ^(guò)大約0.2 N的可控力靠在表面上，而測(cè)尖的力為0.005 N。
• SFP2可用于測(cè)量直徑小為5 mm的內(nèi)孔。
• 表面測(cè)量能力：6.3至0.05 μm Ra。
• 輸出：Ra、RMS和原始數(shù)據(jù)從UCCServer返回至使用I++ DME協(xié)議的測(cè)量應(yīng)用客戶端軟件。原始數(shù)據(jù)隨后可提供給專業(yè)的表面分析軟件包，用于創(chuàng)建更詳細(xì)的報(bào)告。
• 傳感器標(biāo)定包括測(cè)量MRS-2交換架上的表面粗糙度標(biāo)定塊 (SFA) 的表面粗糙度。標(biāo)定軟件根據(jù)標(biāo)定塊的標(biāo)定值自動(dòng)調(diào)整測(cè)頭輸出。
• SFP2包括一個(gè)集成式機(jī)動(dòng)C軸，它可以使表面粗糙度測(cè)量在工件周圍的任一所需方向進(jìn)行。

SFM測(cè)頭模塊

用于SFP2表面粗糙度檢測(cè)測(cè)頭的SFM模塊將REVO-2測(cè)座的五軸測(cè)量和無(wú)級(jí)定位能力與SFP2測(cè)頭的集成式C軸結(jié)合在一起，可以測(cè)量之前難以接近的表面特征。

五個(gè)SFM模塊系列具有的檢測(cè)能力，適用于要求極為嚴(yán)苛的工業(yè)測(cè)量應(yīng)用。

從A到E的每個(gè)模塊系列都具有*的設(shè)計(jì)特性和用途：比如，通用型A系列模塊用于高效執(zhí)行發(fā)動(dòng)機(jī)缸體墊片端面測(cè)量和曲軸軸承頸的橫向掃描；型E系列模塊具有一個(gè)兩部分滑軌和一個(gè)中央測(cè)針，極為適合深入工件的小孔執(zhí)行短掃描，比如自動(dòng)變速箱閥體。

每個(gè)模塊都有其*的幾何形狀和鉸鏈連接，因此可以使用MST模塊設(shè)定工具在180°范圍內(nèi)選擇SFH表面粗糙度吸盤與SFM表面粗糙度模塊之間的角度。

英國(guó)雷尼紹 REVO表面粗糙度檢測(cè)測(cè)頭 SFP2

英國(guó)雷尼紹 REVO表面粗糙度檢測(cè)測(cè)頭 SFP2