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KLA-Tencor AIT XUV 晶圓檢測儀

是一款優良的晶圓測試和計量設備，主要用于半導體行業的高精度檢測。該系統采用超紫外（UV）模式匹配技術和最新一代的Datalite軟件，能夠以ji高的速度和精度檢測出1/10000毫米大小的小缺陷。此外，它還具備激光掃描功能，可以進行300mm晶圓的雙暗場光學檢查，具有更高的吞吐量和靈敏度，適用于65nm生產需求。

AIT XUV 系統不僅提供快速、可靠的測試能力，還結合了多種優良技術，如X射線、紫外光、可見光和紅外光學技術，以實現對納米級特征的全面測量和分析。這種多功能性使其成為當前和下一代設備研究的理想選擇。

在實際應用中，AIT XUV 能夠在單次通過過程中發現導致產量下降的關鍵缺陷，并且其性能比現有檢測工具提高了高達75%的吞吐量。此外，該系統還支持自動定位系統、自動對焦單元和iADC功能，以加快結果獲取速度。

KLA-Tencor AIT XUV 是一款功能強大且高效的晶圓測試和計量設備，廣泛應用于半導體行業，為客戶提供快速、精確的檢測解決方案。