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晶圓檢測儀 參考價:面議
HMI eScan 315 晶圓檢測儀是一款由HMI公司制造的自動化晶圓和掩模檢查設備,旨在為圖案化晶圓和光罩檢查過程提供經濟高效的解決方案。該系統采用專有的P...晶圓檢測儀 參考價:面議
THERMA-WAVE TP 630 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量設備,廣泛應用于半導體、數據存儲和光伏產業。該設備具備多種尖duan技術,能夠提供高精...晶圓檢測儀 參考價:面議
KLA-Tencor Puma 9100 晶圓檢測儀是一款先進的半導體晶圓測試和計量設備,廣泛應用于生產及研發領域。該設備具有高精度和可重復性的特點,能夠提供精...晶圓檢測儀 參考價:面議
KLA-Tencor Puma 9000 晶圓檢測儀是一款優良的晶圓檢測和計量設備,廣泛應用于半導體制造業。該系統利用KLA-Tencor創新的Streak&t...晶圓檢測儀 參考價:面議
KLA-Tencor AIT XUV 晶圓檢測儀是一款優良的晶圓測試和計量設備,主要用于半導體行業的高精度檢測。該系統采用超紫外(UV)模式匹配技術和最新一代的...晶圓檢測儀 參考價:面議
KLA-Tencor AIT XP 晶圓檢測儀是一款功能強大且高效的晶圓測試和計量設備,通過其先進的檢測技術、自動化功能和模塊化設計,能夠顯著提升半導體制造過程...晶圓檢測儀 參考價:面議
KLA-Tencor AIT II 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量系統,專為半導體行業設計。該系統具有多種功能和特點,使其在晶圓缺陷檢測和過程控制方面表現...晶圓檢測儀 參考價:面議
KLA-Tencor AIT I 晶圓檢測儀是一種用于檢測圖案化晶圓表面缺陷的系統。該系統配置為處理6英寸(150毫米)和8英寸(200毫米)的晶圓,并具備自動...晶圓檢測儀 參考價:面議
KLA-Tencor 2351 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓和掩模檢測系統,廣泛應用于半導體制造行業。該系統具備多種功能,包括高分辨率成像、自動化分析以及專門的缺...晶圓檢測儀 參考價:面議
KLA-Tencor 2135 晶圓檢測儀是一種高duan的掩模和晶圓檢測系統,具有多種先進技術和高靈敏度成像功能。以下是其詳細規格參數:用途:主要用于圖案化晶...