微光顯微鏡

LED光源是LED產(chǎn)品的心臟，主要功能就是把電能轉(zhuǎn)化成光能，因此注重光品質(zhì)尤其重要！而當前，芯片廠和燈珠廠在LED光源設計過程中，僅僅是針對光源進行相對簡單的測量，獲得整體的亮度、波長和電壓等參數(shù)，并不能精確地描述光源的光分布情況，這樣容易導致光源的色度和亮度不均勻、光源整體效率低等問題，甚至導致光源失效。因此很有必要利用顯微光分布測試系統(tǒng)對光源進行發(fā)光均勻度測試來優(yōu)化光源設計。

針對以上情況，實驗室自主研發(fā)生產(chǎn)出顯微光分布測試系統(tǒng)，專注于LED產(chǎn)業(yè)改良打造，先已演化到第四代，而且價格從150萬降到幾十萬！訂貨期3個月，歡迎選購！

應用領域：
LED芯片電極設計、LED芯片規(guī)格電流優(yōu)化、芯片出光率、LED芯片來料檢驗、LED芯片失效分析、燈珠燈具的光線追跡、面板燈發(fā)光均勻度、汽車照明燈發(fā)光均勻度、燈具發(fā)光均勻度。

近場光學設備與顯微光分布探頭對LED光敏感度差異對比：

顯微光分布探頭對光敏感度較高，能分辨細小的光強差異，因此成像也更細膩。

微光顯微鏡

顯微光分布與傳統(tǒng)設備大PK：

顯微光分布測試系統(tǒng)可模擬工作溫度進行測試，分辨率可達1微米，其具有3D功能，可觀測芯片出光效果。

設備測試原理：

用于測量光源的光強分布、直徑、發(fā)散角等參數(shù)。通過CCD測量光強分布，通過算法計算出光源直徑等參數(shù)。測量光強的相對強度，不需要使用標準燈進行校準。

系統(tǒng)特點:

1.模擬器件實際使用環(huán)境進行測試

LED光源的光熱性能受溫度的影響較大，脫離實際環(huán)境所測試的結果準確性較差，甚至毫無意義。而自主研發(fā)的顯微光分布測試系統(tǒng)配備有高低溫數(shù)顯精密控溫平臺，能穩(wěn)定控制燈珠引腳和基板溫度，模擬實際使用環(huán)境進行測試，提供更為真實有效的數(shù)據(jù)。如下圖所示，固定其他條件不變，分別控制引腳溫度為80℃和120℃，測試得到的光分布圖，不同溫度下芯片的發(fā)光強度相差較大。該測試平臺還配備有水冷降溫系統(tǒng)，在100s內(nèi)可將平臺溫度由100℃降到室溫，有效解決了樣品臺降溫困難的問題，該系統(tǒng)還可以穩(wěn)定控制樣品臺溫度維持在0℃-室溫，適用于部分需要保持低溫工作的器件。

2.對LED芯片設計提供參考依據(jù)

技術背景：

當前，芯片廠在LED芯片電極圖案設計過程中，僅僅是針對芯片進行相對簡單的測量，獲得整體的亮度、波長和電壓等參數(shù)，并不能精確地描述芯片的光分布情況，這樣容易導致芯片的色度和亮度不均勻、光源整體效率低等問題。而由于缺乏專業(yè)的測試設備和測試經(jīng)驗，LED芯片廠對芯片發(fā)光不均勻的現(xiàn)象束手無策，沒有直觀的數(shù)據(jù)支持，無法從根本上改進芯片品質(zhì)。

實驗室顯微光分布測試系統(tǒng)，方便客戶了解芯片性能，認清芯片電極設計的方向。通過LED芯片發(fā)光均勻度測試，可以從特定角度拍攝芯片影像，建立一個芯片亮度輸出的發(fā)光圖像，接收被測芯片的光信號，提供芯片發(fā)光效果圖和光強數(shù)據(jù)。其中，芯片發(fā)光效果圖能直觀地體現(xiàn)出芯片發(fā)光的均勻程度，判斷電極圖案設計的優(yōu)劣，明確改進方向，優(yōu)化電極圖案。

發(fā)光均勻度評判電極圖案設計的優(yōu)劣：

芯片的電極圖案對芯片的整體亮度、發(fā)光效率、電壓大小影響較大。根據(jù)芯片的發(fā)光均勻度進行電極圖案優(yōu)化后，可以改善電流擴展分布能力，提高電流分布的均勻性，減小電流聚集效應，降低工作電壓，減小串聯(lián)電阻，減少焦耳熱的產(chǎn)生，減弱紅移現(xiàn)象，從而提升芯片的可靠性。

優(yōu)化電極圖案的過程中，要兼顧電流擴展性和遮光面積。例如，對于電極圖案設計，可增加低亮度區(qū)域金手指的長度，來增加電流擴展性，提升低亮度區(qū)域的亮度；同樣，也可以縮小高亮地區(qū)的金手指寬度，減少該區(qū)域的電流擴展性，降低亮度，以達到提高芯片整體發(fā)光均勻度的目的。又例如，對于低亮度區(qū)域還可以設置電流擴展層或增加電流擴展層厚度，以增加電流擴展性；相反，對于高亮度就可以設置電流阻擋層來減小電流密度，以形成均勻分布的電流，同樣可以達到提高芯片整體發(fā)光均勻度的目的。一般，在發(fā)光均勻度滿足要求的情況下，要盡量減少遮光面積，提升發(fā)光效率。