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我司的實時瞬態鎖紅外熱分析系統（RTTLIT）采用實時瞬態紅外鎖相分析技術，采用高頻高靈敏度紅外攝像機，結合高速圖像算法，實時提取微弱紅外光譜信號，其可以用于無損耗的分析電子產品的短路/泄露缺陷。實時瞬態鎖相紅外分析技術具有實時同步輸出、抗干擾能力強、相位圖像和時間分割更精確的優點，即使不在暗室，也能正常工作。同時，我們有多種相機可供選擇，包括短波紅外、中波紅外、長波、可見光、紫外線，甚至多臺相機可用于同一臺機器，以實現更好的設備性能。
其中，短波InGaAS紅外相機（0.099~1.7um）適用于EMMI檢測（低光斑檢測），中波（3~5um）和長波紅外（7~14um)適用于熱EMMI檢測；
我們的產品可以應用于分析：芯片、IC、元件、PCB、PCBA、LED、LCD、IGBT、PEAK等多種產品，成為電子半導體和集成電路故障分析的有力助手。
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