奧林巴斯?超聲波探傷儀相控陣楔塊SA00-N60S SA00-N55S

SA2-0L SA31-N55S SA32-N55S用于角度聲束探頭的楔塊

優(yōu)勢(shì)特性
● 可為30°到70°之間的橫波或縱波角度聲束檢測(cè)，提供0°、 45°、 55°和60°的標(biāo)準(zhǔn)鋼中折射角度。
● 不銹鋼的螺釘插孔可使探頭和楔塊牢固地接合在一起。
● 所提供的楔塊有不同的IHC可選類型：灌溉型、帶孔型（用于安裝到奧林巴斯的掃查器上），以及帶硬質(zhì)合金條的類型（用于防止磨損）。
● 楔塊的設(shè)計(jì)目的是有助于進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)掃查（IHC）。
● 用戶可以訂購(gòu)具有特定折射角度的定制楔塊；還可以自行定制楔塊的形狀與輪廓。

楔塊類型

SA = 用于A型探頭的楔塊
SAWS = 用于AWS型探頭的楔塊
SNW = 用于NW型近壁探頭的楔塊
SPWZ = 用于PWZ型PipeWIZARD探頭的楔塊

 探頭架
N = 正常
L = 側(cè)邊（90°斜角）
DN = 雙晶正常

 鋼中折射角度
0 = 0°
55 = 55°
60 = 60°

波型
S = 橫波
L = 縱波

 選項(xiàng)
IHC = 灌溉、掃查器孔及硬質(zhì)合金防磨釘
IHC-C = 灌溉、掃查器孔及復(fù)合材料防磨釘
IHS = 灌溉、掃查器孔及不銹鋼框

曲度類型
AOD = 軸向外徑（周向掃查）
COD = 周向外徑（軸向掃查）

 相控陣技術(shù)的介紹
相控陣超聲檢測(cè)區(qū)別于其它技術(shù)的特性是可以通過(guò)計(jì)算機(jī)控制對(duì)多晶片探頭中的單個(gè)晶片進(jìn)行激勵(lì)（波幅和延遲）。通過(guò)軟件對(duì)多個(gè)壓電復(fù)合材料晶片的激勵(lì)可以生成一條聚焦的超聲聲束，方法是在發(fā)射聲束的過(guò)程中動(dòng)態(tài)更改聲束的參數(shù)，如：角度、焦距和焦點(diǎn)大小。要通過(guò)相位上的積極干涉生成一條聲束，就要以極小的時(shí)間差，分別觸發(fā)探頭的多個(gè)活動(dòng)晶片。同理，從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會(huì)以可以計(jì)算獲得的時(shí)間偏移觸碰到探頭的不同晶片。在將每個(gè)晶片接收到的回波信號(hào)匯總之前，需對(duì)這些回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)間偏移計(jì)算。匯總的結(jié)果是生成一個(gè)A掃描，這個(gè)A掃描會(huì)突出顯示來(lái)自所需焦點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，而弱化來(lái)自被測(cè)樣件其它部位的信號(hào)。

使用軟件控制聲束角度、焦距和焦點(diǎn)大小

要生成一條超聲聲束，就需要在差別極小的不同時(shí)間對(duì)探
頭的不同晶片進(jìn)行脈沖激勵(lì)。通過(guò)控制探頭晶片之間的時(shí)間延遲，可以生成具有不同角度、不同焦距及不同焦點(diǎn)大小的聲束。從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會(huì)以可以計(jì)算獲得的時(shí)間偏移觸碰到探頭的不同晶片。在將每個(gè)晶片接收到的回波信號(hào)匯總之前，需對(duì)這些回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)間偏移計(jì)算。信號(hào)匯總的結(jié)果是生成一個(gè)A掃描。這個(gè)A掃描會(huì)突出顯示來(lái)自所期望焦點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，而弱化來(lái)自材料其它部位的各種回波。

使用以電子方式控制的單個(gè)小巧的多晶探頭可以完成多角度檢測(cè)

常規(guī)UT檢測(cè)需要使用多種不同的探頭。而一個(gè)單個(gè)相控陣（PA）探頭則可以根據(jù)應(yīng)用的要求進(jìn)行配置，以序列方式產(chǎn)生不同的角度和焦點(diǎn)。
 無(wú)需移動(dòng)部件而完成高速掃查
雖然相控陣技術(shù)要對(duì)來(lái)自多晶片探頭的許多信號(hào)進(jìn)行處理，但是我們要知道：其所得到的信號(hào)是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的射頻（RF）信號(hào)（或A掃描），這個(gè)信號(hào)與任何使用固定角度探頭的常規(guī)系統(tǒng)得到的信號(hào)相同。這個(gè)信號(hào)與來(lái)自常規(guī)UT系統(tǒng)的任何A掃描一樣，可被評(píng)估、處理、過(guò)濾并生成圖像。基于A掃描創(chuàng)建的B掃描、 C掃描和D掃描，也與常規(guī)系統(tǒng)生成的這類圖像一樣。它們之間的區(qū)別在于相控陣系統(tǒng)可以使用單個(gè)探頭完成多角度檢測(cè)。多路傳輸還可以在探頭不動(dòng)的情況下完成掃查：聚焦聲束
由一個(gè)裝有許多晶片的長(zhǎng)相控陣探頭的幾個(gè)晶片創(chuàng)建。然后聲束被移動(dòng)（或稱多路傳輸）到其它晶片，以在不移動(dòng)探頭的情況下，沿掃查軸方向?qū)ぜM(jìn)行高速掃查。這樣探頭就可以不同的檢測(cè)角度進(jìn)行一次以上的掃查。這個(gè)原理可被應(yīng)用到使用線性相控陣探頭進(jìn)行的平面工件檢測(cè)，也可被應(yīng)用到使用圓形相控陣探頭進(jìn)行的管材和棒材檢測(cè) 。

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