首頁>>上海波銘科學儀器有限公司>>產品展示>>半導體材料測試>>橢偏拉曼AFM
納米壓痕測試設備 參考價:面議
對小體積樣品材料力學性質進行定量化測試的關鍵技術。拉曼光譜分析 參考價:面議
拉曼光譜用來測試材料應力,摻雜濃度和sheet& pattem等。從散射光的能量轉移,強度和偏振等方面可以獲取樣品豐富信息,如:結晶取向,組分,機械應力,摻雜和...原子力顯微鏡 參考價:面議
原子力顯微鏡使用非常小的探針,掃描樣品表面,在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設備,可靈活配置和測試,具備優異測試穩定性和可靠性。反射譜成像技術 參考價:面議
iSR是一種微光斑測試技術,用于實時刻蝕和Halftone工藝中的厚度測試光譜型橢偏儀 參考價:面議
光譜型橢偏儀是多功能薄模測試系統,適合各種薄材料的研究。