目錄:儒亞科技（北京）有限公司>>粒度分析>>納米粒度儀>> DC24000UHRCPS高精度納米粒度分析儀
| 測量范圍 | 0.005-75微米 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 分散方式 | 濕法分散 | 價格區(qū)間 | 面議 |
| 儀器種類 | 差示離心沉降法 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,印刷包裝,制藥 |
| 重現(xiàn)性 | 0.5% |
這種原理有以下幾點優(yōu)勢：
CPS高精度納米粒度儀的技術優(yōu)勢：
CPS納米粒度分析儀分辨率很高，它有效地結合了高速離心沉降(ZG24000轉/分)和激光法的優(yōu)點，使得整個儀器能夠達到*的分辨率，優(yōu)良的靈敏度和重復性.
CPS高精度納米粒度分析儀同激光散射和顆粒計數(shù)法比較，該方法有非常高的分辨率，能夠輕松鑒別雜質(zhì)顆粒，污染顆粒或者外來顆粒。半峰寬為峰值粒度 1%，也就是說對于峰值差異只有1%的相鄰粒度兩個粒度峰，該儀器都可以有效地檢測并區(qū)分開來。儀器的分辨率如此高，得到的顆粒分布幾乎不受儀器的影響，測量終得到的是真實、可靠的顆粒分布。
CPS高精度納米粒度分析儀和傳統(tǒng)沉降法比較，更快的分析時間。速度的優(yōu)勢是基于更快的圓盤轉速以及更快的儀器檢測器響應。采用多階速度，分析速度可以小于通常情況下的1/20。
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