qnix8500-QNIX測厚儀

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測厚儀按照測量的方式不同，可大致分為：

1、接觸式測厚儀

接觸面積大小劃分：

點接觸式測厚儀

面接觸時測厚儀

2、非接觸式測厚儀

非接觸式測厚儀根據其測試原理不同，又可分為以下幾種：

激光測厚儀

超聲波測厚儀

涂層測厚儀

X射線測厚儀

白光干涉測厚儀

電解式測厚儀

管厚規

qnix8500-QNIX測厚儀

QNix8500涂鍍層測厚儀一體分體通用，帶菜單操作，是一種智能化的測厚儀。可通過更換探頭來滿足不同的測量需求，可存儲數據，并且可與計算機進行無線傳輸。探頭可直接與主機連接，進行一體化測量，也可通過探頭電纜線來與主機連接，進行分體測量。分體測量操作簡單，可很大程度上避免誤操作產生的誤差。

德國Automation公司成立于1958年。長期以來一直致力于開發、研制、生產涂層測厚儀。早在公司創始人尼克斯（Dr.Nix）博士的父親即開始研究涂層測厚儀。自發明世界上*臺測厚儀以來，尼克斯家族經過幾代人的努力，為測厚儀領域做出了杰出貢獻。同時，也保持了技術。在儀器的精度和抗干擾性方面，注冊了多項。成為當今涂層測厚儀的*優點。

涂層測厚儀工作原理

涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。

技術參數：

qnix8500-