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當(dāng)前位置:廣東德瑞檢測(cè)設(shè)備有限公司>>老化試驗(yàn)箱>>HAST老化試驗(yàn)箱>> DR-HAST-450DHAST溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱
產(chǎn)品型號(hào)DR-HAST-450D
品 牌Derui/德瑞檢測(cè)
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地東莞市
更新時(shí)間:2024-11-23 10:17:53瀏覽次數(shù):438次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)hast加速老化試驗(yàn)箱 高溫蒸煮試驗(yàn)設(shè)備
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 工作室尺寸(L×W×H) | 350*500mm |
---|---|---|---|
價(jià)格區(qū)間 | 5萬-10萬 | 溫度波動(dòng)度 | 1℃ |
溫度范圍 | 105~147℃ | 溫度均勻度 | 1℃ |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,航天,汽車,電氣 | 最高溫度 | 160 |
內(nèi)箱材質(zhì) | 316 |
HAST溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱參數(shù)特點(diǎn)優(yōu)勢(shì):
★、LED數(shù)字型定時(shí)器,當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)后才開始計(jì)時(shí)以確保試驗(yàn)。
★、試驗(yàn)過程自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束,使用簡(jiǎn)便。
置。
★、手動(dòng)安全保護(hù)排壓伐,警急安全裝置兩段式自動(dòng)排壓伐。
★、雙重過熱保護(hù)裝置:當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時(shí),機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動(dòng)切斷加熱電源。
★、LED數(shù)字型溫度控制器可作準(zhǔn)確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示,PID控制,誤差±0.1℃。
★、門蓋保護(hù):特制材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷。
★、三重壓力安全保護(hù)裝置,采用控制器內(nèi)部?jī)啥问匠瑴乇Wo(hù)+機(jī)械式壓力安全保護(hù)裝
★、開始運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動(dòng)排出未飽和蒸氣以達(dá)到理想蒸氣質(zhì)量。
★、精準(zhǔn)的指針式壓力指示,誤差±0.1。
★、鍋內(nèi)安全裝置:鍋門若未關(guān)緊則機(jī)器無法啟動(dòng)。
★、安全閥:當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過最大工作值自動(dòng)排氣泄壓。
★、一體成型硅膠門墊圈,氣密度良好,且使用壽命長(zhǎng)。
HAST溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱在電子行業(yè)中的應(yīng)用有哪些具體案例
HAST試驗(yàn)箱在電子行業(yè)的應(yīng)用非常廣泛,以下是一些具體的應(yīng)用案例:
IC半導(dǎo)體測(cè)試:HAST試驗(yàn)箱常用于評(píng)估半導(dǎo)體器件在高溫高濕環(huán)境下的可靠性。例如,對(duì)于集成電路(IC)的封裝,通過HAST測(cè)試可以模擬實(shí)際使用中的老化過程,預(yù)測(cè)其長(zhǎng)期可靠性。
PCB板測(cè)試:印刷電路板(PCB)在電子設(shè)備中扮演關(guān)鍵角色,HAST試驗(yàn)箱可以用于測(cè)試PCB板在高濕環(huán)境下的耐壓性能和密封性,確保其在惡劣環(huán)境下的穩(wěn)定性和安全性。
連接器和線路板測(cè)試:連接器和線路板是電子組件之間電氣連接的關(guān)鍵部分,HAST試驗(yàn)箱可以模擬高溫高濕環(huán)境,測(cè)試這些組件的耐腐蝕性和物理強(qiáng)度,以保證其長(zhǎng)期可靠性。
磁性材料和高分子材料測(cè)試:磁性材料和高分子材料在電子行業(yè)中有多種應(yīng)用,如磁存儲(chǔ)設(shè)備和絕緣材料。HAST試驗(yàn)箱可以評(píng)估這些材料在高溫高濕環(huán)境下的性能變化,如磁性能的衰減和絕緣性能的退化。
光伏組件測(cè)試:光伏組件需要在戶外長(zhǎng)期運(yùn)行,HAST試驗(yàn)箱可以模擬戶外環(huán)境,測(cè)試組件的耐候性和耐久性,確保其在長(zhǎng)期暴露于自然環(huán)境中的性能和壽命。
汽車電子測(cè)試:汽車電子設(shè)備在運(yùn)行過程中會(huì)受到溫度、濕度和壓力的影響,HAST試驗(yàn)箱可以用于測(cè)試汽車電子設(shè)備在模擬的惡劣環(huán)境下的性能和可靠性,以滿足汽車行業(yè)的嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)。
LED測(cè)試:LED作為一種高效的光源,其在高溫高濕環(huán)境下的光衰和壽命是重要的性能指標(biāo)。HAST試驗(yàn)箱可以用于評(píng)估LED在這些條件下的性能變化,以優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)和提高產(chǎn)品質(zhì)量。
這些案例展示了HAST試驗(yàn)箱在電子行業(yè)中的重要性,它幫助制造商評(píng)估和改進(jìn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì),確保產(chǎn)品在實(shí)際使用中的可靠性和壽命。通過這些測(cè)試,可以顯著提高產(chǎn)品的質(zhì)量,減少故障率,增強(qiáng)消費(fèi)者的滿意度和信任度。
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