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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
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BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀
產品特點：
190至1150 nm，硅探測器
650至1800 nm，InGaAs檢測器
1000至2300或2500 nm，InGaAs（擴展）檢測器
光束直徑?100 µm至?3 mm（擴展的InGaAs為1.5 mm）
實時±1 mr實時散度和指向測量精度
USB 2.00.1 µm采樣和分辨率
實時多Z面掃描狹縫系統
實時XYZ輪廓，焦點位置
實時M2，發散，準直，對準
產品參數：
波長 | Si detector: 190 to 1150 nmInGaAs detector: 650 to 1800 nm Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm |
可測光斑尺寸 | Si detector: 5 µm to 4 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode InGaAs detector: 10 µm to 3 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode InGaAs (extended) detector: 10 µm to 2 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode |
平面間距 (4XY) | 100 µm: -100, 0, +100, +400 µm 250 µm: -250, 0, +250, +1000 µm500 µm: -500, 0, +500, +2000 µm750 µm: -750, 0, +750, +3000 µm |
平面間距 (3XYKE) | 50 µm: -50, 0, +50, 0 µm 100 µm: -100, 0, +100, 0 µm |
光斑束腰直徑測量 | Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat 1/e 2 (13.5%) widthUser selectable % of peak Knife-Edge mode* for very small beams |
光斑束腰位置測量 | ± 20 µm best in X, Y, and Z — contact DataRay for recommendation |
可測光源 | CW; Pulsed lasers, F µm = [500/(PRR in kHz)] |
分辨率/精度 | 0.1 µm or 0.05% of scan range |
M2 測量 | 1 to > 20, ± 5% |
發散角/準直,指向性 | 1 mrad best — contact DataRay for recommendation |
最da功率 & 輻照度 | 1 W Total & 0.5 mW/µm2 |
增益范圍 | 1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range |
顯示圖形 | X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16 |
更新速率 | ~5 Hz |
XY輪廓和質心 | Beam Wander display and logging |
電腦硬件要求 | Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port |
BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀
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