目錄:賽非特科學儀器（蘇州）有限公司>>電子探針顯微分析儀>> JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀
| 供貨周期 | 兩周 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,綜合 |
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JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域，作為研究開發(fā)和分析工具被廣泛使用，其用途越來越廣。此外，在學術(shù)領(lǐng)域 ，地球空間科學、材料科學領(lǐng)域也在廣泛使用，礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻。與此相應(yīng)，在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。JXA-iHP100能更加有效地進行觀察分析操作，是更先進的一體化EPMA。
* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱
JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀
◇ [Setting]
自動定位，準確安裝樣品臺！迅速找到想觀察的點！
進樣和獲取樣品臺導航像一鍵完成。從導航像能夠分析區(qū)域。
◇ [Analysis]
充分的自動功能，誰都可以拍到高級的SEM像
繁瑣的設(shè)定也能對應(yīng)，EPMA立馬進行元素分析
光學顯微鏡的自動聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動功能相結(jié)合，任誰都可以拍到高級的SEM像。
【live Analysis】
通過【live Analysis】能夠在觀察中進行篩選分析。初學者也能操作的【簡單的EPMA】。用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上能夠進行EPMA的條件設(shè)定。用【W(wǎng)D/ED integration】能夠縮短分析時間。SEM、EDS、XRF、WDS、光學像的集成一體化提高了儀器的操作性能。
通過WD/ED integration，分析時間縮短的例子
integration：用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設(shè)定分光晶體的組合
◇ [Self Maintenance]
內(nèi)置18種類校正樣品，有效進行校正
配置【分光器校正功能】減輕了定期進行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設(shè)定時的人為失誤；利用夜間對儀器進行校正，提高了工作效率。
按照【維護通知功能】，在必要時期對儀器進行自我維護，保持設(shè)備最佳狀態(tài)。
維護通知功能【客戶支持工具】
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