目錄:北京航天易達(dá)儀器設(shè)備有限公司>>體積表面電阻率測(cè)試儀>>絕緣材料電阻率測(cè)試儀>> LJD系列材料耐電壓擊穿測(cè)試介電常數(shù)測(cè)試儀
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更新時(shí)間：2024-08-06 15:14:45瀏覽次數(shù)：1582評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,航天,汽車,電氣 |
LJD系列介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
一、符合標(biāo)準(zhǔn)：
ASTM D150-11實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法；
GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法；
GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法；
二、 材料耐電壓擊穿測(cè)試介電常數(shù)測(cè)試儀主機(jī)及夾具參數(shù)：
項(xiàng)目/型號(hào) | LJD-B | LJD-A | LJD-C |
信號(hào)源 | DDS數(shù)字合成信號(hào) | ||
頻率范圍 | 10KHZ-70MHZ | 10KHZ-110MHZ | 100KHZ-160MHZ |
信號(hào)源頻率覆蓋比 | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
采樣精度 | 11BIT | 12BIT | |
信號(hào)源頻率精度 | 3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù) | ||
Q值測(cè)量范圍 | 1～1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 | ||
Q值量程分檔 | 30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔 | ||
Q分辨率 | 4位有效數(shù)，分辨率0.1 | ||
Q測(cè)量工作誤差 | ＜5% | ||
電感測(cè)量范圍 | 1nH～8.4H,；分辨率0.1 | 1nH～140mH；分辨率0.1 | |
電感測(cè)量誤差 | ＜3% | ||
電容直接測(cè)量范圍 | 1pF～2.5uF | 1pF～25uF | |
調(diào)諧電容誤差分辨率 | ±1pF或＜1% | ||
主電容調(diào)節(jié)范圍 | 30～540pF | 17～240pF | |
諧振點(diǎn)搜索 | 自動(dòng)掃描 | ||
自身殘余電感扣除功能 | 有 | ||
大電容值直接顯示功能 | 有 | ||
介質(zhì)損耗直讀功能 | 有 | ||
介質(zhì)損耗系數(shù)精度 | 萬分之一 | ||
介質(zhì)損耗測(cè)試范圍 | 0.0001-1 | ||
介電常數(shù)直讀功能 | 有 | ||
介電常數(shù)精度 | 千分之一 | ||
介電常數(shù)測(cè)試范圍 | 0-1000 | ||
LCD顯示參數(shù) | F,L,C,Q,LT,CT,波段等 | ||
準(zhǔn)確度 | 150pF以下±1pF；150pF以上±1% | ||
Q合格預(yù)置范圍 | 5～1000聲光提示 | ||
環(huán)境溫度 | 0℃～+40℃ | ||
消耗功率 | 約25W | ||
電源 | 220V±22V，50Hz±2.5Hz | ||
極片尺寸 | 38mm/50mm(二選一) | ||
極片間距可調(diào)范圍 | ≥15mm | ||
材料測(cè)試厚度 | 0.1-10mm | ||
夾具插頭間距 | 25mm±0.01mm | ||
夾具損耗正切值 | ≤4×10－4 （1MHz） | ||
測(cè)微桿分辨率 | 0.001mm | ||
測(cè)試極片 | 材料測(cè)量直徑Φ38mm/50mm，厚度可調(diào) ≥ 15mm | ||
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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