TESCAN AMBER是一款超高分辨的FIB-SEM 系統(tǒng)，集成了 BrightBeam™ SEM 鏡筒、Orage™ Ga FIB鏡筒、OptiGIS氣體注入系統(tǒng)等多項(xiàng)創(chuàng)新設(shè) 計(jì)，在高分辨能力、原位應(yīng)用擴(kuò)展能力和分析擴(kuò)展 能力方面達(dá)到了業(yè)內(nèi)頂級(jí)水平。

TESCAN AMBER泰斯肯配置的新一代Essence ™操作軟件極 大簡(jiǎn)化了用戶界面，能快速訪問各主要功能，并優(yōu) 化了操作流程向?qū)В子趯W(xué)習(xí)，可根據(jù)工作需要定 制操作界面。

新穎的樣品室內(nèi)3D空間位置和移動(dòng)軌跡模擬 功能，可避免誤操作，造成碰撞。

新型Orage™鐮離子FIB鏡筒

創(chuàng)新的OrageTM Ga F舊鏡筒配有良好的離 子光學(xué)系統(tǒng)和顚設(shè)計(jì)的OptiGISTM氣體注入系統(tǒng)， 束流可達(dá)100 nA,具有超快速加工能力，新穎的 SmartMill高速切割功能，使得加工效率提升一倍。

AMBER離子能魚低可達(dá)500 eV,擁有更優(yōu) 秀的低壓樣品制備能力，可以快速制備無損超薄 TEM樣品。系統(tǒng)還可以配置多種擴(kuò)展分析附件，并 實(shí)現(xiàn)與Raman、TOF-SIMS —體化。

•  SEM 分辨率：0.9nm@ 15kV

•  F舊分辨率：＜2.5nm@30kV

•  可選擇不同角度和不同能量收集電子信號(hào)， 獲得更好的表面靈敏度和對(duì)比度

•  靜電-電磁混合物鏡，無外泄磁場(chǎng)，更適合 對(duì)磁性樣品的觀察和分析

•  光闌孔徑達(dá)30個(gè)，由壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器控制， 全面提升束流強(qiáng)度和精度

•  配置大型樣品室，有超過20個(gè)擴(kuò)展接口， 為原位觀測(cè)和分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境

1.乳膠珠，50V成像。

2.鋰電池負(fù)極上制備出的50 pm長(zhǎng)度的截面。

3.未噴鍍的霉菌，800 V成像。

4.小鼠舌的表面形貌，2 kV, Cryo-SEM0。