當前位置:上海途哲電子設備有限公司>>EMC測試儀器>>東京電子TET>> 1100-ESD/CDM/LUP半導體ESD測試儀 1100系列HBM/CDM/閂鎖
應用領域 | 能源,電子,航天,汽車,綜合 |
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日本TET東京電子交易株式會社 ESD1100系列共分為3個型號,分別是:
●1100-ESD(ESD試驗專用型號)
●1100-CDM (CDM試驗專用型號)
●1100-LUP (LATCH UP閂鎖 試驗專用型號)
可廣泛應用于器件的開發設計評價、認證接收檢查、品保評價、操作環境評價等各種試驗用途。
ESD試驗是測試靜電放電干擾(ESD脈沖)和器件破損之間的關系。ESD干擾有HBM(人體帶電模型)和MM(機械帶電模型)兩種。Model 1100-ESD可以進行這兩種干擾的測試。另外,還可以通過選件,追加想要進行的ESD測試。可以對64 pin器件進行全自動的滿足標準的全引腳組合的測試。另外,帶有簡單的進行ESD波形自動測試的軟件,準備好示波器、電流探頭、衰減器后,可以確認滿足標準的波形,安心的進行ESD試驗。
本機臺在三軸構造的機械手上裝配HBM或MM的ESD發生模塊(EPG模塊),可進行滿足國內外標準的ESD試驗。
CDM試驗有感應充電法(FI-CDM)和直接充電法(DI-CDM)兩種。兩種的區別是給器件充電的方法不同,但都是模擬充電好的器件引腳和金屬接觸時的干擾。本試驗裝置這兩種充電方式都可以進行試驗。
LUP閂鎖試驗是測試由于外來噪聲(觸發源)引起的器件閂鎖抗擾度。本裝置裝備了電流脈沖、電源過電壓脈沖作為觸發源。閂鎖現象通過施加觸發后電源電流的增加來判定。為了獲得穩定的試驗結果,可能需要提供上拉/下拉以穩定Inom,本裝備通過專用的夾具板,用跳線連接。
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