半導體閂鎖測試儀7000B產品簡介7000B系列測試機臺陣容有：●7000B-E（專用于ESD試驗）●7000B-L（專用于閂鎖試驗）●7000B-EL（用于ESD/閂鎖試驗）產品用途【ESD部-滿足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標準、ESD波形自動測試、對應引腳組合測試、高達8kV HBM測試、采用高規格電源進行破壞判定。】【閂鎖部-滿足 JEITA, JEDEC, AEC標準、DUT穩定化功能 輸入引腳Max HI/Min LO和時鐘/圖形發生器為標準配置、可搭載最多10臺電源(內部6臺和外部4臺)、高溫閂鎖試驗（選件）、動態IC的閂鎖試驗（可選）。ESD/閂鎖共用部-引腳數:128、256、512，最多10個相同的被測物連續測試。