當前位置:無錫浩輝者新材料科技有限公司>>真圓度測定機>> EC5200/EC6100圓柱度測定機
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 50萬-100萬 |
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應用領域 | 化工,能源,電子,電氣 |
圓柱度測定機
● 設備空間占用相比以往品減少30%。
● 最高等級回轉精度。
● Y軸移動量±70mm。
● R移動量275mm(較先前機種提高62%)。
● 移動速度提高Z軸 50mm/sec,X軸 30mm/sec。
● 總高度2500 mm以下,可適用空間高度較低的測量室。
● 主要擴展機能∶非接觸檢出器Trispy、圓周粗度測定、長物檢出器。
圓柱度測定機
機構·方式 | 多孔質靜壓空氣軸承·工作臺回轉式 |
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回轉精度 | 0.05um (JISB 7451) |
最大測定徑 | 內外徑都是Φ550mm(※EC5100H的機種) |
積載質量 | 200kg (※EC5100H的機種) |
上下移動量 | 1000mm(使用b觸針臂時)(※EC5100H的機種) |
工作臺移動范圍 | X:800mm(左500mm, 右300mm) Y:士60mm |
無錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經驗及對檢測設備及技術的研發與應用,為客戶提供材料檢測分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術,以及其性能限制,為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時,我們會幫助輔導客戶完成整個分析過程,得到客戶所需要的答案及結果。也可依顧客需求,提供完整專業的系統解決方案。目前服務于各大專院校、研究機構、產業界研發單位和具備自主研發能力的大型企業,期望對國內外的科研及產業盡一份心力。
無錫浩輝者科技在過去服務對象中,成功建立了原位分析模式,如溫度、壓力與電位等之檢測分析平臺,用以了解相關材料在實際應用操作下的物理化學特性。包含掃描探針顯微鏡、光學顯微鏡用以進行材料之表面型態以及表面物理特性分析;顯微三維掃描共軛焦拉曼光譜、顯微紅外光分析儀、X射線繞射儀用以進行材料之鍵結型態、官能基型態以及晶體結構狀態分析;X射線熒光分析儀用以進行成分原素組成比例分析;熱重分析串接紅外光譜與氣相層析質譜儀用以辨別化學結構物質之比例組成,透過不同溫度之熱裂解更可進一步了解材料內部之相關添加物質,并結合鍵結型態、官能基型態以及晶體結構狀態可進一步推廣至逆向工程檢測服務平臺。透過浩輝者科技的材料檢測分析與逆向工程分析儀器技術平臺,可得知各種材料的完整物理化學特性,并建立完整的材料認證體系。
由于科技不斷的創新進步,浩輝者也在積極地尋找并開發*的光譜&影像關鍵技術及All-in-one多功能產品提供給顧客,公司所有同仁更努力不懈求創新、求進步,期望能提供顧客優質的服務及質量,并在未來與顧客共同成長茁壯。
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