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當前位置：> 供求商機> 近場光譜影像分析系統UniDRON-Nano
• 系統結合后保留原有AFM之功能 • 可結合之光譜包含拉曼、紅外光、太赫茲光、熒光與時間解析熒光光譜
• 可建立正立或倒立以及同時正倒立顯微鏡 • 雷射照射方式: 穿透、反射以及側向激發 • 可同時進行多點探針掃描
系統架設：
使用側面照明的多探頭無孔成像（NSOM＆THz＆IR）
分析應用：
AFM-NSOM-IR-Raman Performance
AFM-IR mapping of low K films
無錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經驗及對檢測設備及技術的研發與應用，為客戶提供材料檢測分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術，以及其性能限制，為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時，我們會幫助輔導客戶完成整個分析過程，得到客戶所需要的答案及結果。也可依顧客需求，提供完整專業的系統解決方案。
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