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探針式輪廓儀（臺階儀） 參考價：面議
探針式輪廓儀（臺階儀）源自AFM的光學杠桿技術，精確測量臺階高度及表面輪廓。
石英晶體微天平 參考價：面議
來自Stanford Research的經濟實用的石英晶體微天平
電動涂膜機 參考價：面議
電動涂膜樣品均勻，厚度精確可控。
紅外熱像儀 參考價：面議
全新1024級分辨率——TiX1060紅外熱成像儀，配備超像素技術，可增強至314萬像素。
數據采集系統 參考價：面議
數據采集系統DAQ6510 采用 6½ 位分辨率和 15 個內置測量功能進行測量。 執行低電流、低電阻和溫度測量，并使用內置數字化器查看瞬態信號。
數據采集系統 參考價：面議
Keysight DAQ970A/973A數據采集系統內置六位半數字萬用表，可測量和轉換12 種不同的輸入信號，采用主機+插入式模塊設計。
科里奧利氣液質量流量計/控制器 參考價：面議
科里奧利氣液質量流量計/控制器可控制測量氣體、液體、氣液混合流量，或未知流體以及混合介質。
手套箱 參考價：面議
手套箱工作氣體循環經過凈化柱時，其所含 水分和氧氣被吸附掉，然后再返回箱 體內，隨著循環時間的推移，箱體內 工作氣體中的水氧含量會逐步減少，終達到小于1ppm的...
勻膠旋涂儀 參考價：面議
勻膠旋涂儀又名勻膠機、旋涂儀，美國Laurell勻膠機650系列勻膠機適用于半導體、硅片、晶片、基片、導電玻璃及制版等表面涂覆工藝。
磁控濺射鍍膜系統 參考價：面議
DC/RF 雙濺射電源，可進行單質濺射、反應濺射和共濺射。
原子層沉積系統 參考價：面議
原子逐層沉積，致密性高，厚度精確可控的ALD鍍膜系統。
全自動化學吸附儀 參考價：面議
全自動化學吸附儀，主要用于催化劑和催化反應研究。
真空封管機 參考價：面議
真空封管機可實現樣品的無氧無水真空密封或高溫固相合成，整套系統由主機、氫氧機、真空泵、管接頭等組成。
比表面及孔隙度分析儀 參考價：面議
MicrotracBEL比表面及孔隙度分析儀采用容量法測定比表面和孔徑分布。
Zeta電位及納米粒度分析儀 參考價：面議
Zeta電位及納米粒度分析儀采用先進的“Y"型光纖探針光路設計，配置膜電極產生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層，無需外加...
激光粒度儀 參考價：面議
靜態激光衍射法/動態圖像分析法，三激光設計，無需預熱，即開即用。
光學接觸角測量儀 參考價：面議
采用精密自動滴液裝置，液滴大小與位置精確可控，高質量相機確保成像清晰。
全自動表面張力儀 參考價：面議
內置高精度微天平，自動化測試。
拉曼光譜儀 參考價：面議
高性能拉曼光譜儀，配置豐富。
熒光分光光度計 參考價：面議
熒光分光光度計采用高速三維熒光采集，用于高靈敏度和寬動態范圍的熒光光譜和生物發光、化學發光、電致發光光譜測量，可測量熒光量子產率和熒光量子效率。
紫外分光光度計（UV-VIS-NIR） 參考價：面議
SolidSpec-3700i/3700i DUV具有高靈敏度及寬波段測試范圍、超大樣品室、三檢測器系統、遵循ER/ES法規要求，更強的數據管理能力
紫外分光光度計（UV-VIS-NIR） 參考價：面議
UV-3600i Plus 紫外可見近紅外分光光度計具有雙光柵單色器的設計，標配覆蓋紫外-可見-近紅外區的三檢測器，保證全波長檢測的靈敏度。豐富可選的附件可以滿...
紫外分光光度計（UV-VIS） 參考價：面議
UV-2600i/2700i是一個通用，研究級的分光光度計，可用于廣泛的領域中，并能簡易擴展，以滿足測定樣品的要求。
傅里葉變換紅外光譜儀 參考價：面議
IRTracer-100提升干涉儀、檢測器性能，使SN比高達60,000:1，實現本檔次儀器的高靈敏度，同時支持高速反應跟蹤。與操作性能得以提高的 LabSol...
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